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J-GLOBAL ID:200903054345104001
半導体記憶装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊丹 勝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999161669
Publication number (International publication number):2000348497
Application date: Jun. 08, 1999
Publication date: Dec. 15, 2000
Summary:
【要約】【課題】 メモリセルアレイの面積増加率を抑えてECC回路を搭載した半導体記憶装置を提供する。【解決手段】 1バイト単位でデータ読み出し、書き換えを行うEEPROMであって、メモリセルアレイ11に書き込むべきデータについて誤り訂正のためのパリティビットを4バイトの情報ビットに対して発生させるパリティビット発生回路19、メインカラムデコーダ12により選択される4バイトの情報ビットとこの情報ビットに付与されたパリティビットを読み出して誤り訂正を行う誤り訂正回路17、この誤り訂正回路17から出力された4バイトの情報ビットのうち入力アドレスに対応する1バイトのデータを選択して出力するサブカラムデコーダ15を備えた。
Claim (excerpt):
電気的書き換え可能な不揮発性メモリセルを配列してなるメモリセルアレイと、このメモリセルアレイのメモリセル選択を行うデコード回路と、前記メモリセルアレイのnビットデータを並列読み出しする際に、そのnビットデータを含むn×k(k:正の整数)ビットの情報ビットとこの情報ビットに付与されたパリティビットを読み出して誤り訂正を行う誤り訂正回路と、この誤り訂正回路から出力されたn×kビットの情報ビットのうち入力アドレスに対応するnビットデータを選択して出力するサブデコード回路とを有することを特徴とする半導体記憶装置。
IPC (6):
G11C 29/00 631
, G11C 16/06
, H01L 27/115
, H01L 21/8247
, H01L 29/788
, H01L 29/792
FI (4):
G11C 29/00 631 Z
, G11C 17/00 639 C
, H01L 27/10 434
, H01L 29/78 371
F-Term (25):
5B025AA03
, 5B025AB01
, 5B025AC01
, 5B025AD02
, 5B025AD04
, 5B025AD05
, 5B025AD08
, 5B025AD13
, 5B025AE00
, 5F001AA01
, 5F001AB02
, 5F001AD12
, 5F001AE01
, 5F001AE50
, 5F083EP02
, 5F083EP22
, 5F083EP76
, 5F083EP77
, 5F083FR05
, 5F083GA09
, 5F083LA04
, 5F083LA05
, 5F083LA10
, 5L106AA10
, 5L106BB13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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誤り訂正回路を備えた不揮発性メモリ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-013896
Applicant:三星電子株式会社
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フラッシュ様コアを有するEEPROMアレイ
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-528421
Applicant:アトメル・コーポレイション
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