X線コンピュータ断層診断装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002193254
Publication number (International publication number)：2003079611
Application date： Jul. 02, 2002
Publication date： Mar. 18, 2003
Summary：

【要約】【課題】適切な撮影条件を決定しこれに従ってスキャンを実行することで、被検体の被曝線量を低減させ、作業効率及び画質を向上させるX線CT装置を提供すること。【解決手段】被検体Pに対して所定方向から得たスキャノ像データに基づいて、当該被検体に関するX線吸収率マップを作成し、当該吸収率マップに基づいて、撮影条件を決定する。断層像撮影前においては、当該撮影条件に従ってスキャンを実行する場合の被曝量を示す指標が計算され、撮影条件とともに表示される。また、撮影条件が更新された場合には、更新の度に被曝量を示す指標が計算され、表示される。断層像撮影は、最終的に決定された撮影条件に従って実行される。これにより、被検体の被曝を低減させ、良好な画質の断層像を得ることができる。

Claim (excerpt)：

X線を曝射するX線源と、被検体を透過したX線を検出する複数の検出素子を有するX線検出器と、前記X線検出器の出力に基づいて、被検体の第1の方向に関するスキャノ像を生成するスキャノ像生成セクションと、前記スキャノ像をマトリクス状に分割し、当該マトリクス単位のX線吸収率又はX線吸収量を計算することで、前記被検体の当該第1の方向に関するX線吸収率又はX線吸収量の分布情報を生成する分布情報生成セクションと、前記分布情報に基づいて、撮影条件を決定する撮影条件決定セクションと、前記撮影条件に基づいて、前記被検体のコンピュータ断層撮影に関する制御を行うコントローラと、を具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。

IPC (2)：

A61B 6/03 330 , A61B 6/03 371

FI (2)：

A61B 6/03 330 B , A61B 6/03 371

F-Term (13)：

4C093AA22 , 4C093BA17 , 4C093CA01 , 4C093CA18 , 4C093CA34 , 4C093EA02 , 4C093FA18 , 4C093FA55 , 4C093FA59 , 4C093FB09 , 4C093FB20 , 4C093FD11 , 4C093FF16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (10)

特許第2704084号
X線CT装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-019262 Applicant：株式会社島津製作所
X線画像診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-334744 Applicant：株式会社島津製作所

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