調整可能なコンピュータ断層撮影装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：伊東忠彦 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998542107
Publication number (International publication number)：2000516834
Application date： May. 25, 1998
Publication date： Dec. 19, 2000
Summary：

【要約】コンピュータ断層撮影装置は、放射線によって検査されるべき対象の多数の濃度プロファイルを形成するためのX線源(1)とX線検出システム(3)とを含む。再構成ユニット(4)は濃度プロファイルから画像信号を導出する。制御システム(20)は、対象の濃度値に基づいてX線源(1)を調整し、制御システムは検査されるべき対象の一部に基づいてX線源を調整するよう配置される。制御システムはまたX線源の基準調整量に基づいてX線源を調整するよう配置される。基準調整量は検査されるべき対象の一部に依存する。

Claim (excerpt)：

X線源(1)と、放射線によって検査されるべき対象(2)の多数の濃度プロファイルをピックアップするためのX線検出システム(5)と、濃度プロファイルから画像信号を導出するための再構成ユニット(4)と、対象の濃度値に基づいてX線源を調整するための制御システム(20)とを含むコンピュータ断層撮影装置であって、上記制御システム(20)は、検査されるべき上記対象の一部の組織の種類に基づいて上記X線源を調整するよう配置されていることを特徴とする装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

特開平3-295541
特開平3-295541
X線診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-205201 Applicant：株式会社東芝

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