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J-GLOBAL ID:200903054894902378

III-V族窒化物半導体素子

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 布施 行夫 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997031238
Publication number (International publication number):1998214999
Application date: Jan. 30, 1997
Publication date: Aug. 11, 1998
Summary:
【要約】【課題】 特定のバッファ層を有することにより、結晶欠陥が少ない高品質の半導体層を含むIII-V族窒化物半導体素子を提供する。【解決手段】 III-V族窒化物半導体素子は、基板1、該基板1上に形成されたバッファ層20、および該バッファ層20上に形成された、複数のIII-V族窒化物半導体層からなる堆積層30を有する。前記バッファ層20は、少なくとも、In<SB>x</SB>Ga<SB>1-X</SB>N(0<x≦1)で表されるIII-V族窒化物半導体、たとえばInNからなる第1バッファ層2、およびこの第1バッファ層より上にあって、Al<SB>y</SB>Ga<SB>1-y</SB>N(0≦y≦1)で表されるIII-V族窒化物半導体、たとえばGaNからなる第2バッファ層3を含む。堆積層30は、たとえばレーザ構造を有する。
Claim (excerpt):
基板、該基板上に形成されたバッファ層、および該バッファ層上に形成された、複数のIII-V族窒化物半導体層を含み、前記バッファ層は、少なくとも、In<SB>x</SB>Ga<SB>1-X</SB>N(0<x≦1)で表されるIII-V族窒化物半導体からなる第1バッファ層、およびこの第1バッファ層より上にあって、Al<SB>y</SB>Ga<SB>1-y</SB>N(0≦y≦1)で表されるIII-V族窒化物半導体を主成分とする第2バッファ層を含むことを特徴とするIII-V族窒化物半導体素子。
IPC (2):
H01L 33/00 ,  H01S 3/18
FI (2):
H01L 33/00 C ,  H01S 3/18
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 半導体素子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-038157   Applicant:株式会社東芝
  • 半導体発光素子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-235013   Applicant:ローム株式会社

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