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J-GLOBAL ID：200903054958412191

液体クロマトグラフ質量分析装置

Inventor： 和気 弘明
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995223852
Publication number (International publication number)：1997068517
Application date： Aug. 31, 1995
Publication date： Mar. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】 荷電微小液滴などによるノイズの影響を受けにくい液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。【解決手段】 液体クロマトグラフ部10と質量分析部20との間にあるインタフェース部30のイオン化部31の後段には屈曲した試料導入路35を設け、この試料導入路35を通過する際に荷電微小液滴を管壁に付着させることにより除去し、加熱、衝突を経て屈曲した試料導入路を通過したイオンが質量分析部20にて検出されるようにする。

Claim (excerpt)：

液体クロマトグラフ部と質量分析部との間に、液体クロマトグラフ部から与えられる液体試料をイオン化して質量分析部に与えるインタフェース部を備えた液体クロマトグラフ質量分析装置において、前記インタフェース部のイオン化部の後段には屈曲した試料導入路を設け、この試料導入路を通過したイオンが質量分析部にて検出されるようにしたことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置。

IPC (3)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/34 ,  H01J 49/42

FI (4)：

G01N 27/62 X ,  G01N 27/62 E ,  H01J 49/34 ,  H01J 49/42

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-018721   Applicant：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
• 質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-311965   Applicant：株式会社日立製作所