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J-GLOBAL ID：200903055017980933

超音波探傷装置および超音波探傷方法

Inventor：
木村 友則

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三須 幸一郎

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和高 修三

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小池 光裕

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杉元 幸郎

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羽深 嘉郎

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広田 信明

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横野 泰和

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Applicant, Patent owner：
三菱電機株式会社

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湘菱電子株式会社

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非破壊検査株式会社

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Agent (2)： 田澤 博昭 ,  加藤 公延
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003148030
Publication number (International publication number)：2004347572
Application date： May. 26, 2003
Publication date： Dec. 09, 2004
Summary：
【課題】試験対象物の周囲が試験対象物と異なる性質の固体で囲まれた状態である場合に、試験対象物と他の固体との境界付近の腐食の有無を非破壊的に検査する。【解決手段】任意波形発生部72は送信用探触子1を駆動するためにバースト信号を生成し、信号処理部75は受信用探触子2からの電気信号に基づいて、試験対象物8中のエコー高さを計算する。バースト信号のキャリア周波数を変更しながら、この処理を繰り返し、キャリア周波数の変更に対するエコー高さの変化に基づいて試験対象物8中の腐食の有無を判定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
電気信号によって駆動され超音波を試験体中に送信する送信用探触子を駆動するためにバースト信号を生成するバースト信号生成部と、 前記バースト信号のキャリア周波数を変更する指令を前記バースト信号生成部に与える制御部と、 前記試験体中を伝搬した超音波を電気信号に変換する受信用探触子からの電気信号に基づいて、前記試験体中の超音波の強度を計算する強度計算部と、 前記キャリア周波数の変更に対する前記試験体中の超音波の強度の変化に基づいて前記試験体の性状を判定する性状判定部とを備えた超音波探傷装置。
IPC (2)：
G01N29/04 ,  G01N29/20
FI (2)：
G01N29/04 502 ,  G01N29/20
F-Term (14)：
2G047AB05 ,  2G047BB02 ,  2G047BC03 ,  2G047BC11 ,  2G047CB04 ,  2G047EA08 ,  2G047EA14 ,  2G047GA13 ,  2G047GF08 ,  2G047GF11 ,  2G047GG06 ,  2G047GG19 ,  2G047GG24 ,  2G047GG28
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (11)
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Cited by examiner (14)
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