顕微鏡

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：篠原泰司 , 藤中雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004199554
Publication number (International publication number)：2006023387
Application date： Jul. 06, 2004
Publication date： Jan. 26, 2006
Summary：

【課題】一台の顕微鏡でもって、一つの標本に対し、観察する目的に応じて、多光子励起蛍光観察、第二高調波観察、コヒーレントラマン散乱光観察の全てを並行して或いは選択的に行うことができる顕微鏡を提供する。【解決手段】第一のパルスレーザ発生手段1と、第二のパルスレーザ発生手段2と、第一のパルス光と第二のパルス光を合成して標本4に照射可能な照射手段(符号省略)と、照射光を照射された標本4からの光から、コヒーレントラマン散乱光のみを抽出する抽出手段(符号省略)と、多光子励起蛍光のみを抽出する抽出手段6と、第二高調波のみを抽出する抽出手段7と、抽出されたコヒーレントラマン散乱光を検出する検出手段8と、抽出された蛍光を検出する検出手段9(又は10)と、抽出手段7を介して抽出された第二高調波を検出する検出手段10(又は9)とを有する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

第一の波長成分を持つ第一のパルス光を発生させる第一のパルスレーザ発生手段と、第二の波長成分を持つ第二のパルス光を発生させる第二のパルスレーザ発生手段と、前記第一のパルス光と前記第二のパルス光を合成して標本に照射可能に構成された照射手段と、前記照射手段を介して光を照射された標本からの光から、コヒーレントラマン散乱光のみを抽出するコヒーレントラマン散乱光抽出手段と、前記照射手段を介して光を照射された標本からの光から、前記第二のパルス光の該標本への照射により発生した多光子励起蛍光のみを抽出する多光子励起蛍光抽出手段と、前記照射手段を介して光を照射された標本からの光から、前記第二のパルス光の該標本への照射により発生した第二高調波のみを抽出する第二高調波抽出手段と、前記コヒーレントラマン散乱光抽出手段を介して抽出されたコヒーレントラマン散乱光を検出するコヒーレントラマン散乱光検出手段と、前記多光子励起蛍光抽出手段を介して抽出された多光子励起蛍光を検出する多光子励起蛍光検出手段と、前記第二高調波抽出手段を介して抽出された第二高調波を検出する第二高調波検出手段と、を有することを特徴とする顕微鏡。

IPC (4)：

G02B 21/00 , G01N 21/64 , G01N 21/65 , G02F 1/35

FI (4)：

G02B21/00 , G01N21/64 E , G01N21/65 , G02F1/35

F-Term (29)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA05 , 2G043EA01 , 2G043EA03 , 2G043GA04 , 2G043GB01 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA07 , 2G043HA09 , 2G043JA03 , 2G043KA07 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2H052AA01 , 2H052AA09 , 2H052AC05 , 2H052AC13 , 2H052AC14 , 2H052AC15 , 2H052AC27 , 2H052AC34 , 2H052AD34 , 2H052AF07 , 2K002AA07 , 2K002BA02 , 2K002CA05 , 2K002GA10

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (12)

二光子吸収蛍光顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-149401 Applicant：横河電機株式会社
非線形顕微方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-121083 Applicant：学校法人早稲田大学
非線形振動顕微鏡法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-560422 Applicant：バッテル・メモリアル・インスティチュート

WO02/06778A1

US2003/0011765

レーザ顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-242634 Applicant：オリンパス光学工業株式会社

顕微鏡組立物
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-007783 Applicant：ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー

超高速時間分解蛍光分光方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-176710 Applicant：科学技術振興事業団

光学式画像形成のための方法および装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2001-564686 Applicant：フォトゲンインク

半導体応力測定用ラマン分光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-360913 Applicant：株式会社日立製作所

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置、画像記録方法、及び記録媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-363922 Applicant：オリンパス光学工業株式会社

多光子イメージ化装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2002-542854 Applicant：アンスティテュ・キュリ, サーントル・ナシヨナル・ドゥ・ラ・ルシェルシェ・シヤンティフィック

Show all

Cited by examiner (7)

レーザ顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-242634 Applicant：オリンパス光学工業株式会社
顕微鏡組立物
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-007783 Applicant：ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
超高速時間分解蛍光分光方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-176710 Applicant：科学技術振興事業団

Show all

Return to Previous Page