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J-GLOBAL ID:200903090316878258
顕微鏡組立物
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
木村 高久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001007783
Publication number (International publication number):2001235683
Application date: Jan. 16, 2001
Publication date: Aug. 31, 2001
Summary:
【要約】【課題】 特に、検査対象である試料(6)を照射するための光源(1)を備える共焦点走査型顕微鏡用の顕微鏡組立物を提供する。【解決手段】 試料(6)において発生される蛍光(10,13)の検出用の少なくとも1つの蛍光検出器(11,14)が設けられる。さらに、試料(6)を通過する透過光(15)の検出用の少なくとも1つの透過光検出器(16)も設けられる。
Claim (excerpt):
特に共焦点走査型顕微鏡法用の顕微鏡組立物であって、検査対象の試料(6)を照射するための光源(1)と、前記試料(6)において発生された蛍光(10,13)の検出用の少なくとも1つの蛍光検出器(11,14)と、前記試料(6)を通過する透過光(15)の検出用の少なくとも1つの透過光検出器(16)とを備え、前記蛍光検出器(11,14)および前記透過光検出器(16)が、前記蛍光(10,13)および前記透過光(15)の同時検出を可能にするように配置されることを特徴とする顕微鏡組立物。
IPC (2):
FI (2):
G02B 21/00
, G01N 21/64 E
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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蛍光顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-078555
Applicant:株式会社ニコン
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レーザ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-354082
Applicant:株式会社ニコン
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レーザスキャン光学系及びレーザスキャン光学装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-121481
Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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蛍光顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-251132
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-204192
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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レーザ走査型蛍光顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-083384
Applicant:株式会社ニコン
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レーザ走査型顕微鏡及び測光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-224780
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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特開昭63-306413
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光ビームの複数スペクトル帯域を同時に検知する装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-529627
Applicant:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
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