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J-GLOBAL ID：200903055266223336

表面検査装置

Inventor：
深沢 千秋

About 深沢 千秋


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 三好 秀和 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995204715
Publication number (International publication number)：1996105842
Application date： Aug. 10, 1995
Publication date： Apr. 23, 1996
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、帯状物上の表面欠陥が様々な形状で複数の部分からなる場合にも各欠陥の種類及び等級をリアルタイムで高速且つ正確に識別することを目的とする。【解決手段】 走行する帯状物1の表面欠陥の画像を検出する検出手段3と、その表面欠陥の画像から欠陥の分布状態を判定して同種の欠陥からなる欠陥領域を決定する欠陥領域判定手段20と、その欠陥領域に含まれる欠陥の種類及び等級を識別する識別手段30とを備えたことを特徴とする。
Claim (excerpt)：
走行する帯状物の表面欠陥の画像を検出する検出手段と、検出された前記表面欠陥の画像から欠陥の分布状態を判定して同種の欠陥からなる欠陥領域を決定する欠陥領域判定手段と、決定された前記欠陥領域に含まれる欠陥の種類及び等級を識別する識別手段とを備えたことを特徴とする表面検査装置。
IPC (3)：
G01N 21/89 ,  G06T 7/00 ,  G06T 5/20
FI (2)：
G06F 15/62 400 ,  G06F 15/68 410
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
  • 欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-103543   Applicant：富士写真フイルム株式会社
  • 欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-191602   Applicant：三菱レイヨン株式会社
  • 表面欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-003352   Applicant：株式会社リコー
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Cited by examiner (4)
  • 欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-103543   Applicant：富士写真フイルム株式会社
  • 欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-191602   Applicant：三菱レイヨン株式会社
  • 表面欠陥検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-003352   Applicant：株式会社リコー
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