Pat
J-GLOBAL ID：200903055717058067

評価方法及びその装置

Inventor：
神野 敬行

About 神野 敬行


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (4)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005082709
Publication number (International publication number)：2006266763
Application date： Mar. 22, 2005
Publication date： Oct. 05, 2006
Summary：
【課題】 主観的な光沢感と相関の高い光沢感評価値および光沢ムラ評価値を算出することができる評価方法及び装置を提供する。【解決手段】 物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する。その測定結果に基づいて、物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する。抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する。算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
画像処理装置によって、物体の光沢特性を評価する評価方法であって、 前記物体の変角反射光分布特性を測定装置によって測定する測定工程と、 前記測定工程による測定結果に基づいて、前記物体の光沢特性を評価するための評価パラメータを抽出する抽出工程と、 前記抽出工程で抽出した評価パラメータに基づいて、前記物体の光沢特性を示す評価値を算出する算出工程と、 前記算出工程で算出した評価値を、前記評価パラメータで規定される少なくとも2次元の空間上で可視表示する表示工程と を備えることを特徴とする評価方法。
IPC (1)：
G01N 21/57
FI (1)：
G01N21/57
F-Term (4)：
2G059AA02 ,  2G059BB10 ,  2G059EE02 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 光沢評価方法および装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-107219   Applicant：富士ゼロックス株式会社
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM