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J-GLOBAL ID：200903055987161919

欠陥深さ測定方法および装置

Inventor：
村上 功治

About 村上 功治


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 波多野 久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000246386
Publication number (International publication number)：2002062281
Application date： Aug. 15, 2000
Publication date： Feb. 28, 2002
Summary：
【要約】【課題】欠陥深さを初期の段階で精度良く測定することができ、運転プラントにおける圧力容器や構造物等の健全性の評価、初期欠陥検出による欠陥の進展評価、残存寿命の推定を行うことができるようにする。【解決手段】複数の超音波探傷用振動子21a,21bを音響隔離材23によって隔離した状態で隣接配置した超音波探触子20を、被検査体としての構造物表層部または薄い断面を有する構造物上で走査させる。振動子から被検査体の表層部周辺に超音波ビームを集中させて発振し、微小な浅い欠陥先端部からの回折波または散乱波を受信する。計測される超音波の伝搬時間と、発振および受信における超音波入射点間の距離とに基づき、構造物表層部または薄い断面を有する前記被検査体である構造物の欠陥深さを測定する。
Claim (excerpt)：
複数の超音波探傷用振動子を音響隔離材によって隔離した状態で隣接配置した超音波探触子を、被検査体としての構造物表層部または薄い断面を有する構造物上で走査させるとともに、前記振動子から前記被検査体の表層部周辺に超音波ビームを集中させて発振し、微小な浅い欠陥先端部からの回折波または散乱波を受信して、計測される超音波の伝搬時間と、発振および受信における超音波入射点間の距離とに基づき、前記構造物表層部または薄い断面を有する前記被検査体である構造物の欠陥深さを測定することを特徴とする欠陥深さ測定方法。
IPC (2)：
G01N 29/04 502 ,  G01N 29/18
FI (2)：
G01N 29/04 502 ,  G01N 29/18
F-Term (11)：
2G047AA07 ,  2G047AC02 ,  2G047BB02 ,  2G047BC02 ,  2G047BC07 ,  2G047BC11 ,  2G047BC18 ,  2G047EA10 ,  2G047GA13 ,  2G047GB02 ,  2G047GB03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
  • 特公昭63-021135
  • 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-122554   Applicant：新日本製鐵株式会社
  • 特開昭58-132658
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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