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J-GLOBAL ID：200903056048167218

検査方法及び検査システム

Inventor：
金城 元一

About 金城 元一

, 
村田 真理子

About 村田 真理子

, 
氷上 好孝

About 氷上 好孝


Applicant, Patent owner：
ダックエンジニアリング株式会社

About ダックエンジニアリング株式会社


Agent (2)： 柳野 隆生 ,  森岡 則夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005217280
Publication number (International publication number)：2007033247
Application date： Jul. 27, 2005
Publication date： Feb. 08, 2007
Summary：
【課題】 記憶手段に記憶されたマスタ画像と該マスタ画像に基づいて作成された印刷物又は版とを比較し、印刷物又は版の良否を検査する検査方法及び検査システムを提供することを目的とする。【解決手段】 マスタ画像のデータを記憶手段3に記憶させ、被検査対象物を、読取装置2により光学的に読み取った被検査画像データを記憶手段6に記憶させ、前記読取装置2に特有の誤差因子を少なくとも含む補正要素と前記マスタ画像データとに基づき、少なくとも前記被検査対象物を前記読取装置2で読み取ったときのデータを想定した第1想定画像データを作成させ、前記第1想定画像データの画像と当該画像に対応する被検査画像データの画像とを比較して良否を判定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
マスタ画像に基づき、印刷物又は印刷物の版からなる被検査対象物の良否を判定する検査方法であって、 前記マスタ画像のデータを記憶手段に記憶させ、 前記被検査対象物を、読取装置により光学的に読み取り、読み取った被検査対象物の被検査画像データを記憶手段に記憶させ、 前記読取装置に特有の誤差因子を少なくとも含む補正要素と前記マスタ画像データとに基づき、少なくとも前記被検査対象物を前記読取装置で読み取ったときのデータを想定した第1想定画像データを作成させる、若しくは、前記読取装置に特有の誤差因子を少なくとも含む補正要素と前記被検査画像データとに基づき、少なくとも前記読取装置による誤差がない状態のデータを想定した第2想定画像データを作成させ、 前記第1想定画像データの画像と当該画像に対応する被検査画像データの画像とを比較して良否を判定する、若しくは、前記第2想定画像データの画像と当該画像に対応するマスタ画像とを比較して良否を判定することを特徴とする検査方法。
IPC (5)：
G01N 21/88 ,  G03F 1/00 ,  B41F 33/14 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00
FI (5)：
G01N21/88 J ,  G03F1/00 W ,  B41F33/14 G ,  G06T1/00 310A ,  G06T7/00 300E
F-Term (31)：
2C250EB39 ,  2C250EB40 ,  2C250EB43 ,  2G051AA34 ,  2G051AB11 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051ED04 ,  2H095AA06 ,  2H095AD05 ,  5B057AA12 ,  5B057CH07 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC33 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096BA08 ,  5L096CA01 ,  5L096GA08 ,  5L096HA07 ,  5L096JA03
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (10)
  • シート状印刷物の欠陥検出方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-017951   Applicant：ダックエンジニアリング株式会社
  • デジタル検版装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-009352   Applicant：大日本スクリーン製造株式会社
  • 量子誤差を考慮したマッチング処理方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-164899   Applicant：大和製罐株式会社, 東芝アイティー・ソリューション株式会社
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Cited by examiner (8)
  • 量子誤差を考慮したマッチング処理方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-164899   Applicant：大和製罐株式会社, 東芝アイティー・ソリューション株式会社
  • 印刷監視装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-327918   Applicant：東光株式会社
  • 円筒容器の印刷検査方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-275368   Applicant：ミノルタ株式会社
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