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J-GLOBAL ID:200903056618986099
センサシステムの校正方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
亀谷 美明 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000389874
Publication number (International publication number):2001227982
Application date: Dec. 22, 2000
Publication date: Aug. 24, 2001
Summary:
【要約】【課題】 新たに補助的手段を設けることなく,センサシステムの自動校正及び自動検査可能なセンサシステムの校正方法を提供する。【解決手段】 センサシステムにより対象の特徴的なデータを検出する工程と,車両の固有運動を考慮して静止対象あるいは準静止対象として認識されたデータを校正ユニットに供給する工程と,対象の実測データとモデルデータの偏差をエラーベクトルとして求める工程と,偏差を最小にする方向でモデルデータを補正する工程と,を有する。
Claim (excerpt):
車両のコース推移内の対象検出及び評価を実行するセンサシステムの校正方法であって,前記センサシステムにより対象の特徴的なデータを検出する工程と,前記車両の固有運動を考慮して静止対象あるいは準静止対象として認識されたデータを校正ユニットに供給する工程と,前記対象の実測データとモデルデータの偏差をエラーベクトルとして求める工程と,前記偏差を最小にする方向でモデルデータを補正する工程と,を有することを特徴とする,センサシステムの校正方法。
IPC (7):
G01C 25/00
, B60R 21/00 624
, B60R 21/00 626
, B60R 21/00 628
, G01S 7/40
, G01S 17/93
, G01D 18/00
FI (7):
G01C 25/00
, B60R 21/00 624 B
, B60R 21/00 626 G
, B60R 21/00 628 Z
, G01S 7/40 C
, G01D 18/00
, G01S 17/88 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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