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J-GLOBAL ID：200903056689052143

質量分析装置

Inventor： 橋本 雄一郎 ,  長谷川 英樹 ,  馬場 崇 ,  和氣 泉
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (2)： 浅村 皓 ,  浅村 肇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009040516
Publication number (International publication number)：2009117388
Application date： Feb. 24, 2009
Publication date： May. 28, 2009
Summary：

【課題】排出効率が高く、質量分解能が高くかつ排出エネルギーの低いリニアトラップを提供することである。【解決手段】排出効率が高く、質量分解能が高くかつ排出エネルギーの低いリニアトラップを実現する質量分析装置であって、オン源で生成したイオンを導入し、入口、出口を有する高周波電圧を印加した四重極ロッド電極を有する質量分析計において、少なくともそのイオンの一部を、四重極電界の中心軸上に形成したトラップポテンシャルによってトラップし、隣接する四重極ロッドの中間方向へと、トラップした該イオンの一部が振動し、振動した該イオンを、引出し電場により排出し、排出した該イオンを検出または、他の検出プロセスへと導入する。【選択図】図1A

Claim (excerpt)：

試料をイオン化させるイオン源と、 前記イオン源によりイオン化されたイオンをトラップさせる入口側電極、出口側電極、四重極ロッド電極、及びトラップ電極を備えたイオントラップと、 前記イオントラップを構成する電極への電圧を制御する制御部と、 前記イオントラップによってトラップされたイオンを検出する検出部とを有する質量分析装置であって、 前記制御部は、前記四重極ロッド電極の中心軸上にトラップポテンシャルを形成させてから、隣接する前記四重極ロッドの中間方向へトラップした前記イオンの一部を振動させ、前記振動したイオンを引き出し電場を形成することにより前記四重極ロッドの中心軸方向へ排出する電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/42 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62

FI (3)：

H01J49/42 ,  H01J49/06 ,  G01N27/62 L

F-Term (15)：

2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA18 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA13 ,  2G041GA22 ,  2G041GA29 ,  5C038FF07 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-417894   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
• イオントラップ質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-172023   Applicant：株式会社日立製作所