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J-GLOBAL ID：200903056857771797

物性測定用液晶装置、液晶物性測定方法及び液晶物性測定装置

Inventor： 小間 徳夫 ,  内田 龍男
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社 ,  内田 龍男
Agent (1)： 安富 耕二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998195876
Publication number (International publication number)：2000028566
Application date： Jul. 10, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：

【要約】【課題】 液晶の物性測定用LCDを提供する。【課題】 帯状の液晶駆動電極11,21を有した上下の基板1,2間に液晶4を封入されている。液晶駆動電極11,21上には、プレチルトを与えない配向膜12,22が形成されている。液晶駆動電極11,21は上下間でその長辺を平行にずれて配置されている。この測定用LCDを用いてV-C特性を測定することにより、液晶の閾値が正確に求められ、これから弾性定数K11,K33及び誘電率異方性Δεが算出される。

Claim (excerpt)：

間に物性の測定対象となる液晶を挟んで相対向する上下の基板と、これらの基板の対向内面に形成された液晶駆動電極と、前記液晶の初期配向を制御するために前記液晶駆動電極の上に形成された配向膜とを有した物性測定用液晶装置において、前記液晶は、実質的にプレチルトが与えられることなく初期配向が制御され、かつ、前記液晶駆動電極は、その平面位置が、上下の基板間で一方向にずらされて対向配置されていることを特徴とする物性測定用液晶装置。

IPC (2)：

G01N 27/22 ,  G02F 1/13 505

FI (2)：

G01N 27/22 Z ,  G02F 1/13 505

F-Term (15)：

2G060AA09 ,  2G060AE40 ,  2G060AF10 ,  2G060AG08 ,  2G060AG11 ,  2G060EB07 ,  2G060FA01 ,  2G060HC07 ,  2G060HC10 ,  2G060HC13 ,  2H088FA11 ,  2H088HA03 ,  2H088KA08 ,  2H088KA30 ,  2H088MA20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 液晶の弾性定数比および誘電率異方性の測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-166562   Applicant：内田龍男
• 特開平4-221752
  
• 強誘電性液晶の誘電率測定方法および測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-209379   Applicant：シャープ株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 高電界印加によるネマティック液晶における弾性定数の測定法