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J-GLOBAL ID:200903057024024102
時間分解蛍光顕微鏡
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
平木 祐輔
, 関谷 三男
, 渡辺 敏章
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003434641
Publication number (International publication number):2004309458
Application date: Dec. 26, 2003
Publication date: Nov. 04, 2004
Summary:
【課題】 高い空間分解能と高い時間分解能を有する時間分解蛍光顕微鏡を提供する。【解決手段】共焦点倒立光学顕微鏡19に設置された試料26からの蛍光と、励起レーザ光を非線形光学素子32に同時に入射させ、和周波光34を発生させる。光学遅延用ディレイライン33の遅延量を変化させることにより試料の時間分解蛍光を測定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
ピンホールと、
試料を載置する試料ステージと、
前記ピンホールの像を前記試料ステージ上の試料に縮小投影するとともに試料から発生された蛍光を前記ピンホールに結像する対物レンズ系と、
パルスレーザ発生手段と、
前記パルスレーザ光発生手段から出射されたレーザ光を2分割する光分割手段と、
前記光分割手段によって分割された一方のレーザ光を試料励起光として前記ピンホールに入射させる手段と、
前記光分割手段によって分割された他方のレーザ光の光路長を可変する光路長可変手段と、
前記ピンホールから出射した試料からの蛍光と前記光路長可変手段を通ったレーザ光とを混合して両者の和周波光を発生させる非線形光学素子と、
前記非線形光学素子から発生された和周波光を分光する分光手段と、
前記分光手段からの出射光を検出する検出器と、
前記光路長可変手段によって前記他方のレーザ光の光路長を変化させたとき前記検出器から得られる出力を記録する記録手段と
を含むことを特徴とする時間分解蛍光顕微鏡。
IPC (2):
FI (3):
G01N21/64 B
, G01N21/64 E
, G02B21/00
F-Term (37):
2G043AA03
, 2G043BA14
, 2G043CA05
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043GA04
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AB17
, 2H052AB24
, 2H052AC07
, 2H052AC11
, 2H052AC16
, 2H052AC27
, 2H052AC29
, 2H052AC30
, 2H052AC33
, 2H052AC34
, 2H052AD16
, 2H052AD27
, 2H052AD33
, 2H052AD34
, 2H052AD35
, 2H052AF02
, 2H052AF06
, 2H052AF07
, 2H052AF11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-035992
Applicant:関西ティー・エル・オー株式会社
-
走査型顕微鏡検査における照明用光源装置、及び走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-348265
Applicant:ライカミクロジュステムスハイデルベルクゲーエムベーハー
-
サーキュレータを有する走査型顕微鏡および共焦点走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-185233
Applicant:ライカマイクロシステムズハイデルベルクゲーエムベーハー
Article cited by the Patent:
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