成分分析計の光学的測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：浅村皓 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994176766
Publication number (International publication number)：1996043299
Application date： Jul. 28, 1994
Publication date： Feb. 16, 1996
Summary：

【要約】【目的】試料容器中に詰め込まれた試料の詰め具合の不均一のために生ずる、測定光の光軸が試料中を通る位置の違いによる測定値の誤差を極力小さくする。【構成】光源から放射された光の光軸を横切るように、試料を収容する試料容器を駆動機構によって断続的に移動させ、その断続的な移動中の複数個の停止位置で試料容器中の試料の異なる部分における透過光を検出器で検出して、それら複数個の検出値を平均して試料の測定値とするようにした成分分析計の光学的測定措置。

Claim (excerpt)：

所要の波長の測定光を放射する光源と、該光源からの測定光を試料中の一部に集光させる光学手段と、該試料を透過した測定光を検出する検出器と、前記試料を収容し、前記測定光が透過する部分は光透過部材で形成した試料容器と、該試料容器を前記測定光の光軸に垂直な方向に複数段階にわたり断続的に移動させる手段と、該移動手段により前記試料容器が断続的に移動されるときに所要の複数個の停止位置で前記検出器での検出値を取り込む手段と、を備えた成分分析計の光学的測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/27 , G01N 21/31 , G01N 21/59

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

近赤外線を用いた穀物評価装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-088268 Applicant：井関農機株式会社
LED発光式分光器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-358174 Applicant：前田博志
特開昭49-039471

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