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J-GLOBAL ID:200903057718236131

特定パターン認識方法、特定パターン認識プログラム、特定パターン認識プログラム記録媒体および特定パターン認識装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西川 惠清 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002018853
Publication number (International publication number):2003216931
Application date: Jan. 28, 2002
Publication date: Jul. 31, 2003
Summary:
【要約】【課題】 照明変動や障害物、位置決め誤差などの環境の変動の影響などを受け難い頑健な認識を可能にする。【解決手段】 モデル生成部151、局所パターン候補点抽出部152、モデル変形部152、類似度評価部154を処理装置15に設け、認識対象画像の全体パターンを特徴的な部分の局所パターンとそうでない部分の連結パターンとに分け、認識対象画像を含むデジタル画像から、局所パターンに似た部分を検出し、その部分の情報をもとに全体パターンの変形(位置、回転、スケール変動)を推定し、全体パターンの情報を用いて推定した全体パターンの変形が正しいかを検証することにより、全体パターンを認識するようにした。
Claim (excerpt):
デジタル画像に含まれる特定パターンを有する認識対象画像の位置および向きを特定することができるものであって、前記認識対象画像に対応する基準となる認識基準画像を含むデジタル画像から得られ一の方向がそれぞれに付与された少なくとも2つの局所パターンと、これら局所パターン間を連結する少なくとも1つの連結パターンとから構成される認識用モデルを利用して、画像処理装置が認識対象画像の特定パターンを認識する特定パターン認識方法であって、前記認識用モデルを構成する局所パターンのうち、少なくとも2つの異なる局所パターンの各々に符合する局所パターン候補の位置である局所パターン候補点を、前記認識対象画像を含むデジタル画像から少なくとも1つ抽出し、その少なくとも1つの局所パターン候補点に、対応する局所パターンに付与された方向を割り当てる局所パターン候補点抽出過程と、この局所パターン候補点抽出過程で抽出された局所パターン候補点から、少なくとも2つの相異なる局所パターンと符合する局所パターン候補点の組を少なくとも1組抽出することにより、抽出された組の各局所パターン侯補点からなる変形候補を選定し、選定された変形候補の各局所パターン侯補点の位置関係をもとに、前記認識用モデルに、位置、スケール、角度の変形を加えて、その認識用モデルの全体パターンを前記認識対象画像に重ね合わせる際の各変形パラメータを求めるモデル変形過程と、このモデル変形過程で求められた変形パラメータに基づいて、前記認識用モデルを変形し、この変形した認識用モデルを前記認識対象画像に重ね合わせ、前記変形候補と前記認識対象画像との類似度を評価する類似度評価過程とを含むことを特徴とする特定パターン認識方法。
IPC (3):
G06T 1/00 305 ,  G06T 7/00 300 ,  G06T 7/60 150
FI (3):
G06T 1/00 305 C ,  G06T 7/00 300 E ,  G06T 7/60 150 B
F-Term (31):
5B057AA03 ,  5B057CD20 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC07 ,  5B057DC08 ,  5B057DC16 ,  5B057DC19 ,  5B057DC22 ,  5B057DC34 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096EA13 ,  5L096EA14 ,  5L096EA26 ,  5L096FA06 ,  5L096FA09 ,  5L096FA12 ,  5L096FA13 ,  5L096FA34 ,  5L096FA36 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA68 ,  5L096FA69 ,  5L096GA51 ,  5L096HA08 ,  5L096JA03 ,  5L096JA18
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • 位置検出方法及び装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-025512   Applicant:松下電器産業株式会社
  • 特開昭64-070890
  • 対象物体の位置・姿勢検出方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-120501   Applicant:石川島播磨重工業株式会社
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