光画像計測装置及び光画像計測方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：三澤正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005109247
Publication number (International publication number)：2006153838
Application date： Apr. 05, 2005
Publication date： Jun. 15, 2006
Summary：

【課題】被測定物体内の速度分布画像を迅速に計測できる光画像計測装置を提供する。【解決手段】パルス状の光ビームを周期的に出力する広帯域光源2と、光ビームのビーム径を拡大するレンズ4、5と、光ビームを直線偏光にする偏光板3と、光ビームを信号光Sと参照光Rに分割するハーフミラー6と、参照光Rを円偏光にする波長板7と、被測定物体O内の移動体により部分的に周波数がシフトされた直線偏光の信号光Sと、円偏光の参照光とを重畳させて干渉光を含む重畳光Mを生成するハーフミラー6と、重畳光Mに含まれる干渉光の異なる偏光成分をそれぞれ受光して干渉光のビート周波数に対応する干渉周波数成分を含む検出信号を出力するCCD21、22と、光ビームの強度変調周波数に等しいビート周波数に対応する干渉周波数成分に基づいて速度分布画像を形成する信号処理部20とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

低コヒーレントな光ビームを周期的に強度変調させて出力する光ビーム出力手段と、前記出力された光ビームのビーム径を拡大する拡大手段と、前記光ビームの偏光特性を直線偏光に変換する第1の変換手段と、前記光ビームを被測定物体を経由する信号光と参照物体を経由する参照光とに分割する光ビーム分割手段と、直線偏光の前記信号光又は前記参照光の偏光特性を変換する第2の変換手段と、一方が前記第1の変換手段による直線偏光を、他方が前記第2の変換手段による偏光特性をそれぞれ有する、前記被測定物体内の移動体を経由した部分の周波数がシフトされた前記信号光と、前記参照物体を経由した前記参照光と、を重畳させて、前記周波数のシフト量に応じたビート周波数の干渉光を含む重畳光を生成する重畳手段と、前記生成された前記重畳光に含まれる前記干渉光の異なる複数の偏光成分をそれぞれ受光して、前記干渉光のビート周波数に対応する干渉周波数成分を含む検出信号を出力する2次元光検出手段と、前記出力された前記検出信号に含まれる前記干渉周波数成分のうち、前記光ビーム出力手段による前記強度変調の周波数に略等しい前記ビート周波数に対応する前記干渉周波数成分に基づいて、前記移動体の移動速度の分布を表す速度分布画像を形成する画像形成手段と、を備えることを特徴とする光画像計測装置。

IPC (3)：

G01N 21/17 , A61B 5/026 , A61B 5/028

FI (3)：

G01N21/17 630 , A61B5/02 340D , A61B5/02 340H

F-Term (20)：

2G059AA05 , 2G059AA06 , 2G059BB13 , 2G059CC16 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE09 , 2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG06 , 2G059GG08 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059KK04 , 4C017AA11 , 4C017AB07 , 4C017AC28 , 4C017FF01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

2次元光ヘテロダイン検出法を用いた光画像計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-153919 Applicant：科学技術振興事業団
光波断層画像測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-007505 Applicant：科学技術振興事業団
2次元光ヘテロダイン走査検出システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-084638 Applicant：科学技術振興事業団

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