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J-GLOBAL ID:200903058990984593

生産設備の修正過程支援システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 英彦 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994127730
Publication number (International publication number):1995334226
Application date: Jun. 09, 1994
Publication date: Dec. 22, 1995
Summary:
【要約】【目的】 プレス型や溶接治具といった生産設備を、品質基準を満たす製品が生産されるに至るまで修正してゆく過程を支援するシステムを構築し、修正に必要な時間と費用等を低下させる。【構成】 部品や製品の品質を保証するためには、どの点をどう測定し、どの測定値がどの範囲にあれば合格と扱うかといった情報(品質計画)が必要である。本システムでは品質計画を立案するのに必要なデータを一元管理し、また過去の品質計画も蓄積記憶することで品質計画の立案を支援する。立案された品質計画に基づいて、三次元計測機の測定動作プログラムが作成され、そのプログラムに基づいて測定される。測定値は精度解析サブシステムで解析され、その結果に基づいて生産設備の修正データが求められる。
Claim (excerpt):
部品を生産しその部品を組立てて製品とする生産設備を、品質基準を満たす製品が生産されるに至るまで修正していく過程を支援するシステムであり、部品と部品の組立状態に関する形状データを記憶しておく形状データ記憶手段、部品と、その部品の品質保証部位と、その品質保証部位の品質標準データとを関連づけて記憶しておく品質情報記憶手段、前記形状データ記憶手段と前記品質情報記憶手段に記憶されているデータを参照して特定の部品の品質保証部位と品質標準データを特定する品質計画立案サブシステム、前記品質計画立案サブシステムで立案された品質保証部位に基づいて、測定機の測定動作プログラムを作成する測定動作プログラム作成サブシステム、前記測定動作プログラム作成サブシステムで作成された測定動作プログラムに基づいて、前記生産設備で生産された部品の形状を測定する測定サブシステム、前記測定サブシステムで測定された測定値を前記形状データ記憶手段に記憶されているデータを参照して解析する精度解析サブシステム、前記精度解析サブシステムの解析結果に基づいて、生産設備の修正データを作成する修正データ作成サブシステムとを備えた生産設備の修正過程支援システム。
IPC (3):
G05B 19/418 ,  B23Q 41/08 ,  G06F 17/60
FI (2):
G05B 15/02 S ,  G06F 15/21 R
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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