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J-GLOBAL ID:200903059362903742

低窒素濃度炭素系材料及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 梶 良之 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001382973
Publication number (International publication number):2002249376
Application date: Dec. 17, 2001
Publication date: Sep. 06, 2002
Summary:
【要約】【課題】 グロー放電質量分析法による窒素濃度が100ppm以下の低窒素濃度炭素系材料及びその製造方法を提供する。【解決手段】 ハロゲンガス雰囲気下で高純度処理した炭素系材料を、圧力100Pa以下、1800°C以上で熱処理し、炭素系材料中の窒素を放出させた後、圧力100Pa以下若しくは希ガス雰囲気下において冷却を行う。
Claim (excerpt):
グロー放電質量分析法による窒素濃度が100ppm以下である低窒素濃度炭素系材料。
IPC (4):
C04B 35/52 ,  C23C 16/458 ,  C30B 15/10 ,  H01L 21/205
FI (4):
C23C 16/458 ,  C30B 15/10 ,  H01L 21/205 ,  C04B 35/54 E
F-Term (22):
4G032AA04 ,  4G032AA21 ,  4G032BA01 ,  4G032BA04 ,  4G032GA01 ,  4G032GA19 ,  4G077AA02 ,  4G077BA04 ,  4G077BE08 ,  4G077CF10 ,  4G077EG02 ,  4G077HA12 ,  4G077PD01 ,  4K030BA37 ,  4K030FA01 ,  4K030FA10 ,  4K030GA02 ,  4K030KA47 ,  4K030LA12 ,  5F045AB02 ,  5F045BB14 ,  5F045EM09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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