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J-GLOBAL ID：200903059617435098

放射線測定装置

Inventor： 矢野 賢一 ,  秋山 勉 ,  秋本 武志 ,  川口 浩志
Applicant, Patent owner： アロカ株式会社
Agent (1)： 吉田 研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000384604
Publication number (International publication number)：2002181947
Application date： Dec. 19, 2000
Publication date： Jun. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 注目する自然放射性核種の計数が少ないときでも、その核種の光電ピーク等を用いてエネルギー校正ができるようにする。【解決手段】 プロセッサ18は、スペクトルメモリ16aに形成された単位測定期間のエネルギースペクトル上で、平滑化2次微分法などを用いたアルゴリズムにより40Kの光電ピークを探査する。ここで、光電ピークが見つけられなかった場合、そのスペクトルに対し、RAMディスク26から取り出した1つ前の単位測定期間のエネルギースペクトルを積算し、得られた積算スペクトル上で再度ピーク検出を行う。積算スペクトル上でピークが見つかるか、所定の積算数に達するまでこれを繰り返す。ピークが見つかれば、そのピークが正しいチャネルに来るようにプリアンプ10cのゲインなどを調整する。

Claim (excerpt)：

放射線を検出し、単位測定期間における検出放射線のエネルギースペクトルを求め、このエネルギースペクトル上で所定の指標点の有無を判定し、前記指標点が検出できればそのエネルギー値を特定する基本判定手段と、前記基本判定手段においてエネルギースペクトル上で前記指標点が検出できなかった場合、前記単位測定期間より長い所定の拡張期間にわたる検出放射線のエネルギースペクトルを求め、このエネルギースペクトル上で所定指標点の有無を判定し、前記所定指標点が検出できればその指標点のエネルギー値を特定する拡張判定手段と、前記指標点のエネルギー値に基づいて装置のエネルギー校正を行う校正手段と、を備える放射線測定装置。

IPC (3)：

G01T 1/36 ,  G01T 1/17 ,  G01T 7/00

FI (4)：

G01T 1/36 C ,  G01T 1/17 E ,  G01T 1/17 H ,  G01T 7/00 C

F-Term (13)：

2G088EE25 ,  2G088FF04 ,  2G088FF15 ,  2G088GG09 ,  2G088GG21 ,  2G088KK01 ,  2G088KK06 ,  2G088KK24 ,  2G088LL05 ,  2G088LL15 ,  2G088LL17 ,  2G088LL21 ,  2G088LL28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 放射線測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-125091   Applicant：アロカ株式会社
• エネルギスペクトル測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-221684   Applicant：株式会社島津製作所
• 対象核種の濃度測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-338175   Applicant：関西電力株式会社, 北海道電力株式会社, 四国電力株式会社, 九州電力株式会社, 日本原子力発電株式会社, 株式会社原子力エンジニアリング