Pat
J-GLOBAL ID:200903059967802794

検査対象報知方法、検査対象報知プログラム、および検査対象報知装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 足立 勉 ,  石原 啓策
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003415466
Publication number (International publication number):2005174127
Application date: Dec. 12, 2003
Publication date: Jun. 30, 2005
Summary:
【課題】 プラントに致命的な影響を与えることなく、プラントの検査の際に検査対象となる構成要素を必要最低限まで減らし、検査費用を削減する。【解決手段】 プラントを構成する複数の機器に対して、各機器を構成するキー部品が損傷した際にプラントが受ける影響度を数値化したリスクレベル値を付して予め記憶装置に記憶しておき、S160にてキー部品の使用状態を監視し、キー部品の寿命を予測する。そしてS170にて、予測されたキー部品の寿命が切れる日が、プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定し、キー部品の寿命が切れる日が次回の検査日よりも前である場合に、S180にて、キー部品が属する機器に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更する。そして、予め設定された閾値以上であると判定されたリスクレベル値を有する機器を、今回の検査日における検査対象として報知する。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
プラントを構成する複数の構成要素毎に、各構成要素の損傷確率と、該構成要素が損傷した際に前記プラントが受ける影響度とに基づいて数値化されたリスクレベル値を予め記憶しておき、前記プラントの検査を実施する際には、前記各リスクレベル値が、予め設定された閾値以上であるか否かを判定し、リスクレベル値が前記閾値以上と判定された構成要素を今回の検査日における検査対象として報知する検査対象報知方法であって、 前記構成要素または該構成要素を構成する部品の使用状態を監視し、該構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命を予測する寿命予測工程と、 該寿命予測工程にて予測された構成要素または構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が、前記プラントにおける次回の検査日よりも前であるか否かを判定する寿命判定工程と、 該寿命判定工程にて、前記構成要素または該構成要素を構成する部品の寿命が切れる日が前記プラントにおける次回の検査日よりも前であると判定された場合に、該構成要素に付されたリスクレベル値を、より大きい値に変更するリスクレベル値変更工程と、 を有することを特徴とする検査対象報知方法。
IPC (2):
G05B23/02 ,  G06F17/60
FI (2):
G05B23/02 R ,  G06F17/60 138
F-Term (5):
5H223AA01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF06 ,  5H223FF08
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (12)
Show all
Cited by examiner (6)
Show all

Return to Previous Page