光計測装置

Inventor： , , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：竹本松司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999187737
Publication number (International publication number)：2001013063
Application date： Jul. 01, 1999
Publication date： Jan. 19, 2001
Summary：

【要約】【課題】被検体の複数箇所の部位の測定において、同時に動作する送光点及び/又は受光点の位置や組み合わせの変更を、光源や配線の接続を切り替えることなく行、また、測定時間を短縮し、S/N比を向上させる。【解決手段】被検体10に光を照射し、被検体中を透過及び/又は反射した後に外部に放出される光を測定する光計測装置1において、被検体に光を照射する複数の送光部12と放出される光を受光する複数の受光部13とを備えた送受光部11と、この送受光部11に対して光の送受光を制御する演算・制御部4とを備える構成とし、演算・制御部4は、送受光を行う送光部及び/又は受光部の組み合わせと順序を定めた複数の制御テーブルを備え、選択した制御テーブルの送光部及び/又は受光部の組み合わせと順序に従って送受光制御を行う。

Claim (excerpt)：

被検体に光を照射し、被検体中を透過及び/又は反射した後に外部に放出される光を測定する光計測装置において、被検体に光を照射する複数の送光部と放出される光を受光する複数の受光部とを備えた送受光部と、前記送受光部に対して光の送受光を制御する制御部とを備え、前記制御部は、送受光を行う送光部及び/又は受光部の組み合わせと順序を定めた複数の制御テーブルを備え、選択された制御テーブルに定められた送光部及び/又は受光部の組み合わせと順序に従って送受光制御を行うことを特徴とする光計測装置。

IPC (2)：

G01N 21/17 , A61B 5/145

FI (2)：

G01N 21/17 625 , A61B 5/14 310

F-Term (12)：

2G059AA03 , 2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059CC18 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059GG09 , 2G059KK03 , 2G059MM10 , 4C038KK01 , 4C038KL07 , 4C038KX01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

光による散乱体内部画像化装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-311993 Applicant：株式会社日立製作所
脳機能解析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-233590 Applicant：株式会社島津製作所
光計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-033018 Applicant：株式会社日立製作所

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Cited by examiner (4)

脳機能解析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-233590 Applicant：株式会社島津製作所
光計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-033018 Applicant：株式会社日立製作所
内部特性分布の計測方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-334674 Applicant：浜松ホトニクス株式会社

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