内部特性分布の計測方法および装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996334674
Publication number (International publication number)：1998026585
Application date： Nov. 29, 1996
Publication date： Jan. 27, 1998
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】測定対象物についての測定値から直接的に基準値を求めることを可能とし、その基準値に基づいて測定対象物における内部特性分布の信頼性の高いすなわち高精度の測定が可能な方法および装置の提供。【解決手段】測定対象物の表面における複数の光入射位置から順次対象物中に測定光を入射するステップと、対象物中を透過した測定光を、光検出位置で順次あるいは同時に検出するステップと、各光検出位置で検出された各測定光に基づいて、該測定光の所定パラメータの測定値を求めるステップと、前記位置関係が相対的に同じである光入射位置と光検出位置との複数の組み合わせによって求められた測定値を抽出し、測定値の平均値を算出して基準値を得るステップと、前記複数の組み合わせによって求められた測定値と、基準値とを用いて、対象物の各領域における所定内部特性の変化量を算出して対象物における内部特性変化量分布を求めるステップと、を具備する。

Claim (excerpt)：

測定対象物の表面における複数の光入射位置から順次該対象物中に測定光を入射するステップと、該対象物中を透過した測定光を、前記対象物の表面における複数の光検出位置のうちの少なくとも1つの光検出位置であってかつ測定されるべき測定光が入射された光入射位置に対して所定の位置関係にある光検出位置で順次あるいは同時に検出するステップと、各光検出位置で検出された各測定光に基づいて、該測定光の所定パラメータの測定値を求めるステップと、前記位置関係が相対的に同じである前記光入射位置と前記光検出位置との複数の組み合わせによって求められた複数の前記測定値を抽出し、該測定値の平均値を算出して該位置関係における基準値を得るステップと、前記複数の組み合わせによって求められた前記複数の測定値と、前記基準値とを用いて、複数の領域に分割された前記対象物の各領域における所定内部特性の変化量を算出して該対象物における内部特性変化量分布を求めるステップと、を具備する、内部特性分布の計測方法。

IPC (4)：

G01N 21/17 , A61B 10/00 , G01B 11/00 , G01J 1/00

FI (4)：

G01N 21/17 A , A61B 10/00 E , G01B 11/00 B , G01J 1/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (10)

散乱吸収体内部の吸収情報計測装置及び方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-192370 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
生体光計測方法及び信号表示方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-030972 Applicant：株式会社日立製作所
生体組織の分光検査方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-523889 Applicant：シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト

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