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J-GLOBAL ID:200903060638056184

撮像装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996180753
Publication number (International publication number):1998027513
Application date: Jul. 10, 1996
Publication date: Jan. 27, 1998
Summary:
【要約】【課題】 多種多様な電子部品の撮像をエリアセンサで確実に行うことのできる撮像装置を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明による撮像装置10は、読取対象物3に光を照射する照明用光源群と、照明用光源群からの光によって読取対象物3の像を撮像するエリアセンサ13,15とを備えた撮像装置において、照明用光源群6,7,8を、読取対象物3から延びる反射光軸線A1に沿ってその周囲に複数段に配置させ、各段の照明用光源群6,7,8の照射仰角α ゚,β ゚,γ ゚を読取対象物3から離れるにつれて順次大きくし、各段の照明用光源群6,7,8相互間の点灯を選択的に切り替えることを特徴としている。
Claim (excerpt):
読取対象物に光を照射する照明用光源群と、前記照明用光源群からの光によって前記読取対象物の像を撮像するエリアセンサとを備えた撮像装置において、前記照明用光源群を、前記読取対象物から延びる反射光軸線に沿ってその周囲に複数段に配置させ、各段の前記照明用光源群の照射仰角を前記読取対象物から離れるにつれて順次大きくし、前記各段の照明用光源群相互間の点灯を選択的に切り替えることを特徴とする撮像装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 外観検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-244745   Applicant:日立電子株式会社
  • 電子部品搭載機
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-184704   Applicant:日立テクノエンジニアリング株式会社
  • 部品認識装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-211523   Applicant:三洋電機株式会社

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