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J-GLOBAL ID：200903061113362388

分光測定におけるスペクトルの安定化法

Inventor： 佐倉 武司 ,  山崎 豊 ,  久保 博子 ,  徐 可欣 ,  塩見 元信
Applicant, Patent owner： 株式会社京都第一科学 ,  倉敷紡績株式会社
Agent (1)： 青山 葆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995086795
Publication number (International publication number)：1996285684
Application date： Apr. 12, 1995
Publication date： Nov. 01, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測定エネルギースペクトルの時間に依存するスペクトル誤差成分および測定対象物に対する入射光の入射角度の変化による透過率の変動を低減することである。【構成】 測定対象物に投射した光の透過もしくは反射光エネルギースペクトルの測定エネルギースペクトルに基づいて測定対象物中の特定成分の定量分析を行う方法である。検量式を作成する場合は、特定成分の濃度が既知の測定対象物の測定エネルギースペクトルの波長域を複数の区間に分割し、各区間毎に設定した特定波長の測定エネルギー値と区間内の測定エネルギー値の比を取る。この比をとったスペクトルと既知濃度に基づいて検量式を作成する。特定成分濃度が未知でこれを推定する場合は、検量式を作成したときと同様の方法で、測定エネルギースペクトルについて比をとる。この比をとって得られたスペクトルと検量式に基づいて特定成分濃度を推定する。

Claim (excerpt)：

測定対象物に光を投射し、その透過光エネルギースペクトルもしくは反射光エネルギースペクトルを測定して測定対象物中の特定成分の定量分析を行なう分光測定におけるスペクトルの安定化法であって、測定対象物について透過光エネルギースペクトルもしくは反射光エネルギースペクトルを測定し、測定した測定エネルギースペクトルの波長域を複数の区間に分割し、各区間毎に上記各区間内に設定した特定波長の測定エネルギー値と上記各区間内の測定エネルギー値との比をとることによってスペクトル測定値を安定化させて定量分析を行うことを特徴とする分光測定におけるスペクトルの安定化法。

IPC (2)：

G01J 3/28 ,  G01N 21/27

FI (2)：

G01J 3/28 ,  G01N 21/27 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 分光光度計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-138247   Applicant：株式会社島津製作所
• 患者のグルコース濃度を非侵襲的に測定する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-324787   Applicant：ダイアセンス・インコーポレイテッド
• 血糖値測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-191204   Applicant：オータックス株式会社, ソニー株式会社