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J-GLOBAL ID：200903061230009044

糖鎖構造解析方法

Inventor： 蟹江 治 ,  栗本 綾子 ,  大黒 周作
Applicant, Patent owner： 三菱化学株式会社
Agent (1)： 特許業務法人特許事務所サイクス
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005301337
Publication number (International publication number)：2006145519
Application date： Oct. 17, 2005
Publication date： Jun. 08, 2006
Summary：

【課題】構造未知の糖鎖についてCID-MSn測定を行い、得られたデータをすでに取得されている参照データと比較することにより該糖鎖の構造解析を行う方法を提供する。【解決手段】(a)目的糖鎖について特定のm/zのフラグメントイオンが得られるまでCID-MSn測定を行い、(b)該フラグメントイオンについてさらにCID-MS/MS測定を行い、得られた特定のm/zの娘イオンの総イオンカウント数とCIDエネルギーとの関係を示すCIDエネルギー依存曲線を作成し、(c)該CIDエネルギー依存曲線と、構造既知の参照糖鎖から得られた、上記フラグメントイオンと同一のm/zのフラグメントイオンをCID-MS/MS測定することにより得られた、上記娘イオンと同一のm/zの娘イオンのCIDエネルギー依存曲線とを比較する糖鎖構造解析方法が提供される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

(a)目的糖鎖について特定のm/zのフラグメントイオンが得られるまでCID-MSn測定を行い、(b)該フラグメントイオンについてさらにCID-MS/MS測定を行い、得られた特定のm/zの娘イオンの総イオンカウント数とCIDエネルギーとの関係を示すCIDエネルギー依存曲線を作成し、(c)該CIDエネルギー依存曲線と、構造既知の参照糖鎖から得られた、上記フラグメントイオンと同一のm/zのフラグメントイオンをCID-MS/MS測定することにより得られた、上記娘イオンと同一のm/zの娘イオンのCIDエネルギー依存曲線とを比較することを特徴とする糖鎖構造解析方法。

IPC (1)：

G01N 27/62

FI (1)：

G01N27/62 V

F-Term (14)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041FA06 ,  2G041GA03 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041KA01 ,  2G041LA07 ,  2G041LA10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 化合物構造解析システム,質量分析データ解析方法,質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-356120   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
• 多段型の質量分析計
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2001-519468   Applicant：ユニバーシティオブニューハンプシャー
• 捕獲化合物、その収集物、ならびにプロテオームおよび複合組成物の分析方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2004-500766   Applicant：エイチケイ・ファーマシューティカルズ・インコーポレイテッド, フーベルト・ケスター
• 質量分析データ解析システム,質量分析データ解析プログラム及び化合物解析システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-035928   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “質量分析法による定量的解裂反応解析”