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J-GLOBAL ID:200903061632128520

距離測定装置、及び距離測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 志賀 正武 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000328285
Publication number (International publication number):2002131017
Application date: Oct. 27, 2000
Publication date: May. 09, 2002
Summary:
【要約】【課題】 撮像されるスリット光の輝度分布を一様にして確実にスリット光の撮像を可能にする光切断法を用いた距離測定装置を提供する。【解決手段】 自己が発したレーザ光の反射光を撮像し、レーザ光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であって、レーザ光を発するレーザ発光手段と、レーザ発光手段によって発せられたレーザ光を一方向へ拡散してスリット光にするビーム拡散手段と、スリット光の物体表面における反射光を撮像する画像取得手段と、ビーム拡散手段と物体との間に設けられ、スリット光のビーム拡散方向にスリット光の光強度分布を調整する光強度分布調整手段とを備える。
Claim (excerpt):
自己が発したレーザ光の反射光を撮像し、レーザ光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であって、前記距離測定装置は、前記レーザ光を発するレーザ発光手段と、前記レーザ発光手段によって発せられたレーザ光を一方向へ拡散してスリット光にするビーム拡散手段と、前記スリット光の前記物体表面における反射光を撮像する画像取得手段と、前記ビーム拡散手段と前記物体との間に設けられ、前記スリット光のビーム拡散方向にスリット光の光強度分布を調整する光強度分布調整手段と、を備えたことを特徴とする距離測定装置。
IPC (5):
G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01C 3/06 ,  G01S 17/46
FI (5):
G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 Z ,  G01S 17/46 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E
F-Term (44):
2F065AA06 ,  2F065AA24 ,  2F065AA51 ,  2F065CC00 ,  2F065EE04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL08 ,  2F065LL25 ,  2F065LL42 ,  2F065NN02 ,  2F065NN08 ,  2F065NN17 ,  2F065NN20 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F112AD03 ,  2F112CA04 ,  2F112CA12 ,  2F112DA13 ,  2F112DA19 ,  2F112DA25 ,  2F112FA07 ,  2F112FA21 ,  2F112FA45 ,  5J084AA05 ,  5J084AD05 ,  5J084AD07 ,  5J084BA04 ,  5J084BA34 ,  5J084BB02 ,  5J084BB07 ,  5J084CA03 ,  5J084EA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 形状測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-030374   Applicant:エヌエスディ株式会社
  • 形状計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-031888   Applicant:富士通株式会社
  • 照明方法および照明装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-187854   Applicant:日本電信電話株式会社
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