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J-GLOBAL ID:200903062429545260
大気中微粒子測定装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
川口 嘉之
, 松倉 秀実
, 遠山 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005174875
Publication number (International publication number):2006349448
Application date: Jun. 15, 2005
Publication date: Dec. 28, 2006
Summary:
【課題】大気中に浮遊する微粒子の数量または濃度を、例えば、周囲環境の大気の流れにかかわらず高精度で安定的に測定する、あるいは、従来の測定方式によって得られたデータに対して相関の高いデータを集めるなどの測定目的に応じて、最適な方法で測定可能とする。【解決手段】大気中に浮遊する微粒子を導入して光を照射し、前記微粒子から発生した散乱光および/または蛍光を検出して前記大気中の微粒子の数量または濃度を測定する装置において、大気を導入する大気導入部を目的に応じて交換可能とした。【選択図】図1
Claim (excerpt):
大気中に浮遊する微粒子を測定する大気中微粒子測定装置において、
大気を導入する大気導入部と、
前記大気導入部によって導入された大気が通過する流路手段と、
前記流路手段の所定部位に光を照射する光照射手段と、
前記流路手段の所定部位を通過する大気中の微粒子に光が照射されることにより所定方向に発生した、散乱光および/または蛍光を受光する受光手段と、
前記受光手段からの信号のパルスを計数して演算することにより、前記大気中の微粒子の数量または濃度を導出する信号処理手段と、
前記流路手段、光照射手段及び受光手段を内部において支持固定する装置筐体と、を備え、
前記大気導入部は前記装置筐体に脱着可能に設置され、構造の異なる交換用大気導入部と交換可能としたことを特徴とする大気中微粒子測定装置。
IPC (4):
G01N 15/00
, G01N 15/06
, G01N 21/47
, G01N 21/64
FI (4):
G01N15/00 A
, G01N15/06 D
, G01N21/47 Z
, G01N21/64 Z
F-Term (33):
2G043AA01
, 2G043CA01
, 2G043CA06
, 2G043EA01
, 2G043EA14
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043KA05
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043LA02
, 2G043NA06
, 2G059AA01
, 2G059BB02
, 2G059CC19
, 2G059EE02
, 2G059EE07
, 2G059GG01
, 2G059GG05
, 2G059GG10
, 2G059HH02
, 2G059HH06
, 2G059JJ02
, 2G059JJ07
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059KK01
, 2G059KK02
, 2G059MM10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
-
特許第3113720号公報
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微粉粒子モニター
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-184936
Applicant:株式会社大和製作所
-
花粉センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-228941
Applicant:三洋電機株式会社
-
特許第3502259号公報
-
花粉計数方法および花粉計数装置
Gazette classification:再公表公報
Application number:JP1999004013
Applicant:興和株式会社
-
特許第3558574号公報
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Cited by examiner (4)
-
気中物質捕集装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-229209
Applicant:株式会社テルム
-
花粉検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-076181
Applicant:松下電器産業株式会社
-
粒度分布計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-276510
Applicant:株式会社リコー
-
浮遊粒子状物質濃度測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-311384
Applicant:株式会社堀場製作所
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