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J-GLOBAL ID：200903040571387813

浮遊粒子状物質濃度測定装置

Inventor：
篠原 政良

About 篠原 政良


Applicant, Patent owner：
株式会社堀場製作所

About 株式会社堀場製作所


Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002311384
Publication number (International publication number)：2004144664
Application date： Oct. 25, 2002
Publication date： May. 20, 2004
Summary：
【課題】分粒器としてPM2.5測定に指定されているインパクト式サンプラを採用して、設置が容易であると共に、ベースライン試験を行うためのフィルタを取付け可能とした浮遊粒子状物質濃度測定装置を提供する。【解決手段】中心部に配管接続部6を形成してサンプルガスSを真下に導入可能とするサンプル導入部8を有するインパクト式サンプラ4と、このインパクト式サンプラ4を通過したサンプルガスS中の浮遊粒子状物質の濃度を測定する測定部18とを有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
中心部に配管接続部を形成してサンプルガスを真下に導入可能とするサンプル導入部を有するインパクト式サンプラと、 このインパクト式サンプラを通過したサンプルガス中の浮遊粒子状物質の濃度を測定する測定部とを有することを特徴とする浮遊粒子状物質濃度測定装置。
IPC (2)：
G01N15/00 ,  G01N15/06
FI (2)：
G01N15/00 C ,  G01N15/06 D
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 浮遊粒子状物質の連続測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-162942   Applicant：紀本電子工業株式会社, 科学技術振興事業団
  • 特開昭58-098117
  • 集塵/カウント装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-109582   Applicant：横河電機株式会社
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