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J-GLOBAL ID:200903062738053827
特性測定センサ、特性測定方法及びその装置
Inventor:
,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
畝本 正一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999184168
Publication number (International publication number):2001013087
Application date: Jun. 29, 1999
Publication date: Jan. 19, 2001
Summary:
【要約】【課題】 被測定物によるマイクロ波等の電磁波損失を利用して被測定物の特性測定を実現するとともに、メンテナンスの軽減化ないし容易化を実現し、特性測定の精度を高めた特性測定センサ、特性測定方法及びその装置を提供する。【解決手段】 土壌、茶、木材、溶液等を被測定物(10)とし、この被測定物に伝送線路、即ち、センサ(MSLセンサ2)を近接させ、このセンサを通過させた周波数の異なる複数のマイクロ波等の電磁波損失から、被測定物の含水率、イオン含有率、水分吸引圧値、電導度等の特性測定を行い、その測定精度を高めたものである。
Claim (excerpt):
単一の電磁波又は周波数の異なる複数の電磁波を通過させる単一又は複数の伝送線路を備え、この伝送線路に近接させた被測定物によって生じる電磁波損失を取り出すことを特徴とする特性測定センサ。
IPC (2):
FI (3):
G01N 22/00 U
, G01N 22/00 K
, G01N 22/04 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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特開昭52-096096
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インキ膜厚及び含水率の計測方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-010209
Applicant:三菱重工業株式会社
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特開昭54-056495
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