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J-GLOBAL ID：200903063919351621

欠陥検査方法およびその装置

Inventor： 阪上 ▲隆▼英 ,  中村 士郎 ,  鈴木 宏信 ,  込山 貴仁
Applicant, Patent owner： 阪上 ▲隆▼英 ,  住友大阪セメント株式会社 ,  株式会社中研コンサルタント ,  株式会社コンステック
Agent (5)： 古谷 栄男 ,  松下 正 ,  眞島 宏明 ,  河本 一行 ,  鶴本 祥文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002282546
Publication number (International publication number)：2004117238
Application date： Sep. 27, 2002
Publication date： Apr. 15, 2004
Summary：

【課題】コンクリート構造物などの被検査体における内部欠陥を検出する際において、検出可能な深さを定量化して出力することのできる欠陥検査方法およびその装置を提供する。【解決手段】表面温度計測器21において取得した標準片の表面温度データを、データ記録手段22によって記録し、記録した表面温度データに基づいて欠陥判断手段23が標準片における模擬欠陥を判断する。検出可能範囲決定手段24は、判断結果に基づいて、被検査体において検出可能な深さを決定し、検出可能範囲決定手段25によって、その検出可能範囲として表示する。これにより、被検査体における欠陥検査の信頼性を保証する。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

所定の厚みを有する被検査体の表面温度を計測し、計測領域の各単位領域における表面温度に基づいて、当該被検査体における欠陥を検査するための欠陥検査方法であって、 前記被検査体と熱的に結合しており模擬欠陥を有する標準片の表面温度を計測して、計測領域の各単位領域における表面温度に基づいて、当該標準片における模擬欠陥を判断し、 判断した結果に基づいて、前記被検査体における欠陥を検出可能か否かを判断すること を特徴とする欠陥検査方法。

IPC (1)：

G01N25/72

FI (1)：

G01N25/72 Y

F-Term (9)：

2G040AA06 ,  2G040AB08 ,  2G040BA16 ,  2G040CA01 ,  2G040CA02 ,  2G040DA06 ,  2G040HA02 ,  2G040HA06 ,  2G040HA08

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平4-157355
  
• 構造物の表面または内部欠陥の検知方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-228017   Applicant：日東化学工業株式会社
• 構造物外壁の浮き欠陥の検知方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-311144   Applicant：日東化学工業株式会社

Cited by examiner (4)

• 特開平4-157355
  
• 特開平4-157355
  
• 構造物の表面または内部欠陥の検知方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-228017   Applicant：日東化学工業株式会社
• 構造物外壁の浮き欠陥の検知方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-311144   Applicant：日東化学工業株式会社