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J-GLOBAL ID:200903064258176131

Al合金電極膜およびスパッタリング用ターゲット

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999227309
Publication number (International publication number):2001053024
Application date: Aug. 11, 1999
Publication date: Feb. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】 ドライエッチング性に優れ、Al合金電極膜とその形成に使用されるスパッタリング用ターゲットを提供する。【解決手段】 本発明の電極膜はB、C、4a族、5a族、6a族、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Ptから選ばれる元素のうち少なくとも1種以上の元素を総量として0.1〜5原子%含有し、Li、Na、K、Rb、Cs、Be、Mg、Ca、Sr、Baの含有量が100重量ppm以下の残Alの組成からなりドライエッチングによりパターン形成されたものである。この電極膜は、上記組成に対応するスパッタリング用ターゲットにより得られる。
Claim (excerpt):
B、C、4a族、5a族、6a族、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Ptから選ばれる元素のうち少なくとも1種以上の元素を総量として0.1〜5原子%含有し、Li、Na、K、Rb、Cs、Be、Mg、Ca、Sr、Baから選ばれる元素の総含有量が100重量ppm以下、残部実質的にAlからなり、ドライエッチングによりパターン形成されたことを特徴とするAl合金電極膜。
IPC (5):
H01L 21/28 301 ,  C23C 14/34 ,  G02F 1/1343 ,  H01L 21/285 ,  H01L 21/3065
FI (5):
H01L 21/28 301 L ,  C23C 14/34 A ,  G02F 1/1343 ,  H01L 21/285 S ,  H01L 21/302 G
F-Term (32):
2H092KA16 ,  2H092KA18 ,  2H092MA05 ,  2H092MA14 ,  2H092MA15 ,  2H092MA16 ,  2H092MA18 ,  2H092MA19 ,  2H092NA18 ,  2H092NA25 ,  2H092NA27 ,  2H092NA28 ,  4K029AA09 ,  4K029BA23 ,  4K029BD02 ,  4K029CA05 ,  4K029DC04 ,  4K029DC08 ,  4M104BB02 ,  4M104BB39 ,  4M104DD40 ,  4M104DD65 ,  4M104GG20 ,  4M104HH14 ,  4M104HH20 ,  5F004AA08 ,  5F004BA04 ,  5F004BB29 ,  5F004DA04 ,  5F004DA11 ,  5F004DB09 ,  5F004DB12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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