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J-GLOBAL ID:200903064258176131
Al合金電極膜およびスパッタリング用ターゲット
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999227309
Publication number (International publication number):2001053024
Application date: Aug. 11, 1999
Publication date: Feb. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】 ドライエッチング性に優れ、Al合金電極膜とその形成に使用されるスパッタリング用ターゲットを提供する。【解決手段】 本発明の電極膜はB、C、4a族、5a族、6a族、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Ptから選ばれる元素のうち少なくとも1種以上の元素を総量として0.1〜5原子%含有し、Li、Na、K、Rb、Cs、Be、Mg、Ca、Sr、Baの含有量が100重量ppm以下の残Alの組成からなりドライエッチングによりパターン形成されたものである。この電極膜は、上記組成に対応するスパッタリング用ターゲットにより得られる。
Claim (excerpt):
B、C、4a族、5a族、6a族、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Ptから選ばれる元素のうち少なくとも1種以上の元素を総量として0.1〜5原子%含有し、Li、Na、K、Rb、Cs、Be、Mg、Ca、Sr、Baから選ばれる元素の総含有量が100重量ppm以下、残部実質的にAlからなり、ドライエッチングによりパターン形成されたことを特徴とするAl合金電極膜。
IPC (5):
H01L 21/28 301
, C23C 14/34
, G02F 1/1343
, H01L 21/285
, H01L 21/3065
FI (5):
H01L 21/28 301 L
, C23C 14/34 A
, G02F 1/1343
, H01L 21/285 S
, H01L 21/302 G
F-Term (32):
2H092KA16
, 2H092KA18
, 2H092MA05
, 2H092MA14
, 2H092MA15
, 2H092MA16
, 2H092MA18
, 2H092MA19
, 2H092NA18
, 2H092NA25
, 2H092NA27
, 2H092NA28
, 4K029AA09
, 4K029BA23
, 4K029BD02
, 4K029CA05
, 4K029DC04
, 4K029DC08
, 4M104BB02
, 4M104BB39
, 4M104DD40
, 4M104DD65
, 4M104GG20
, 4M104HH14
, 4M104HH20
, 5F004AA08
, 5F004BA04
, 5F004BB29
, 5F004DA04
, 5F004DA11
, 5F004DB09
, 5F004DB12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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