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J-GLOBAL ID：200903064331247280

測定装置および該測定装置の使用方法

Inventor：
大塚 尚

About 大塚 尚


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002172894
Publication number (International publication number)：2004020267
Application date： Jun. 13, 2002
Publication date： Jan. 22, 2004
Summary：
【課題】全反射光を利用した測定装置において、環境因子を変化させた種々の環境における試料の状態の変化等を高速に測定可能とする。【解決手段】測定ユニット10の試料保持部10c内に挿入され、液体試料11のpHの分布に勾配を発生させるためのポリピロールからなる制御素子3および該制御素子3に対して直流電圧を印加する直流電源4を備えてなる環境因子制御手段5を備え、該環境因子制御手段5により、液体試料のpHの分布に勾配を発生させ、複数のセンサーユニット101A,101B,101C...により異なるpHにおける試料の状態(試料とセンシング媒体との結合状態)を同時に測定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
光ビームを発生させる光源と、 前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、この誘電体ブロックの一面に形成された薄膜層、およびこの薄膜層の表面上に試料を保持する試料保持部を備えてなる測定ユニットと、 前記光ビームを、前記測定ユニットの前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られる入射角で入射させる入射光学系と、 前記測定ユニットの前記界面で全反射した光ビームの強度を測定する光検出手段とを備えてなることを特徴とする測定装置において、 前記試料保持部内の環境因子の、前記薄膜層の表面に沿った1次元もしくは2次元的な分布状態を制御し、前記環境因子の分布に勾配を発生させる環境因子制御手段を備え、 前記入射光学系が、前記環境因子の分布状態が異なる複数の領域に対応する、前記界面の複数の箇所に、前記光ビームを入射させるように構成され、 前記光検出手段が、前記複数の箇所でそれぞれ反射された前記光ビームを各箇所毎に個別に検出するように構成されていることを特徴とする測定装置。
IPC (2)：
G01N21/27 ,  G01N21/03
FI (2)：
G01N21/27 C ,  G01N21/03 Z
F-Term (36)：
2G057AA02 ,  2G057AA07 ,  2G057AB04 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059FF04 ,  2G059FF08 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM11 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
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