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J-GLOBAL ID:200903064450500953
試料分析装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
宮園 博一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004015572
Publication number (International publication number):2005098960
Application date: Jan. 23, 2004
Publication date: Apr. 14, 2005
Summary:
【課題】装置の小型化を図ることができるとともに、分析処理を十分に迅速化することが可能な試料分析装置を提供する。【解決手段】この試料分析装置100は、サンプル容器セット部20と、試薬容器セット部30と、サンプルおよび試薬が収容された検出セル65内部のサンプルの検出を行う反応検出部60と、サンプル容器セット部20、少なくとも実質的に直交するX軸方向およびY軸方向に移動可能に構成され、サンプル容器22、プライマ試薬容器32aおよび酵素試薬容器32bからそれぞれ試料および試薬を吸引するとともに、吸引したサンプルおよび試薬を検出セル65に吐出する分注機構部10とを備えている。そして、サンプル容器セット部20と試薬容器セット部30とは、X軸方向に沿って配置されるとともに、反応検出部60は、サンプル容器セット部20および試薬容器セット部30に対して、Y軸方向に所定の間隔を隔ててX軸方向に沿って配置されている。【選択図】図2
Claim (excerpt):
試料が収容された試料容器を載置するための試料容器載置部と、
試薬が収容された試薬容器を載置するための試薬容器載置部と、
前記試料容器に収容された試料と、前記試薬容器に収容された試薬とが収容される分析容器が載置されるとともに、前記分析容器内部の試料から所定の検出項目の検出を行う検出部と、
前記試料容器載置部、前記試薬容器載置部および前記検出部の上方を、少なくとも実質的に直交するX軸方向およびY軸方向に移動可能に構成され、前記試料容器および前記試薬容器からそれぞれ前記試料および前記試薬を吸引するとともに、前記吸引した試料および試薬を前記分析容器に吐出する分注手段とを備え、
前記試料容器載置部と前記試薬容器載置部とは、前記X軸方向に沿って配置されるとともに、前記検出部は、前記試料容器載置部および前記試薬容器載置部に対して、前記Y軸方向に所定の間隔を隔てて前記X軸方向に沿って配置されている、試料分析装置。
IPC (3):
G01N35/10
, G01N35/00
, G01N35/02
FI (6):
G01N35/06 B
, G01N35/00 A
, G01N35/00 E
, G01N35/02 B
, G01N35/02 G
, G01N35/06 G
F-Term (10):
2G058CB15
, 2G058CE02
, 2G058EA02
, 2G058EA04
, 2G058EA11
, 2G058ED02
, 2G058ED35
, 2G058GA02
, 2G058GB10
, 2G058GE00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (9)
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バーコード読取装置およびそれを備えた自動分析装置および初期位置設定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-158266
Applicant:シスメックス株式会社
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血液等の凝集パターン出力装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-078393
Applicant:スズキ株式会社
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特開昭60-108731
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分注装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-340962
Applicant:アロカ株式会社, 日本赤十字社
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特開平4-230862
-
自動化学分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-178312
Applicant:株式会社島津製作所
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反応連鎖の無汚染処理装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-082404
Applicant:ベーリンガー・マンハイム・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
-
尿自動分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-333850
Applicant:株式会社日立製作所
-
検体試験装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-225166
Applicant:スズキ株式会社
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