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J-GLOBAL ID:200903064890033516

光学コヒーレンス・トモグラフィ撮像における動き補正方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 恩田 博宣 ,  恩田 誠
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007551611
Publication number (International publication number):2008528954
Application date: Jan. 19, 2006
Publication date: Jul. 31, 2008
Summary:
光学コヒーレンス・トモグラフィ(OCT)システムによって獲得される画像データの組は、サンプルの動きによる効果に関して補正される。第1のA走査の組は、サンプルの任意の有意な動きを避けるのに十分に短い時間内で獲得される。第2のより拡張されたA走査の組が、サンプル上の重なる部分にわたって獲得される。有意なサンプル動きは、第2の組の獲得間に生じることがある。第1の組からのA走査は、それを含む長手方向の光学散乱プロファイル間の単純性に基づき、第2の組からのA走査と一致される。A走査のそのように一致した対は、サンプル内の同一領域に対応する可能性がある。A走査対間の長手方向の光学散乱プロファイルにおける任意のシフトとともに、一致する対において各A走査を生成したOCTスキャナ座標の比較によって、対における第1および第2のA走査の獲得の間のサンプルの変位が明らかとなる。サンプル変位の推定を使用して、第2の組におけるA走査の横断方向のおよび長手方向座標を補正して、動き補正されたOCTデータの組が形成される。
Claim (excerpt):
サンプルを横切る放射のビームを走査することによって、複数の横断方向の場所でサンプル内の長手方向光学散乱プロファイルを得るための光学コヒーレンス・トモグラフィ(OCT)システムであって、サンプルがOCTシステムに対して移動するOCTシステムにおいて、該OCTシステムとサンプルとの間の相対移動によって生じる、収集されるデータに関連する座標における不正確性を補正するための方法であって、 サンプルを横切る第1の複数の横断方向の場所で、第1の時間期間の間に第1の組の長手方向走査を全て獲得する工程と、 サンプルを横切る第2の複数の横断方向の場所で、全て第1の時間期間より長い第2の時間期間の間に、該第1の組の長手方向走査より大きい第2の組の長手方向走査を獲得する工程であって、サンプル上の該第2の複数の横断方向の場所の少なくともいくつかは、サンプル上の該第1の複数の横断方向の場所の少なくともいくつかに実質的に対応する、前記獲得する工程と、 該走査の関連する光学散乱プロファイルが実質的に類似するかどうかの評価に基づき、前記第1の複数の走査の所定の走査に前記第2の複数の走査の所定の走査を一致させて、走査の対を規定する工程と、 該OCTシステムと、各一致する対に関連するサンプルとの間の変位を決定し、該変位を使用して該第2の組の走査の少なくともいくつかに関連する座標を調整して、該第2の組の走査を獲得する間に前記相対移動によって生じる不正確性を補正する工程と、を備える方法。
IPC (1):
G01N 21/17
FI (1):
G01N21/17 620
F-Term (12):
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM20
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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