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J-GLOBAL ID：200903065111422257

位置計測システム

Inventor：
瀬古 保次

About 瀬古 保次

, 
堀田 宏之

About 堀田 宏之


Applicant, Patent owner：
富士ゼロックス株式会社

About 富士ゼロックス株式会社


Agent (2)： 田中 清 ,  村山 みどり
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002336341
Publication number (International publication number)：2004028977
Application date： Nov. 20, 2002
Publication date： Jan. 29, 2004
Summary：
【課題】光の干渉を利用した位置計測を単純な構成で低コストで行うことができる位置計測システムを提供する。【解決手段】この位置計測システムは、レーザ光を放射するレーザ光源1と、異なる光路を通過するレーザ光により干渉模様を生じさせる光学レンズ系2と、干渉模様を検出する検出装置3と、検出装置からの検出信号に基いて光源および検出装置の少なくとも一つの位置を求める演算装置30とを備える。ここで光学レンズ系2は例えば球面レンズを用いることができ、この場合、干渉模様は球面収差を利用して得られる。また光学レンズ系2として多重焦点レンズを用いることができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
レーザ光を放射する光源と、異なる光路を通過する前記レーザ光により干渉模様を生じさせる光学レンズ系と、前記干渉模様を検出する検出装置と、前記検出装置からの検出信号に基いて前記光源および検出装置の少なくとも一つの位置を求める演算装置とを備えたことを特徴とする位置計測システム。
IPC (1)：
G01B11/00
FI (1)：
G01B11/00 G
F-Term (9)：
2F065AA01 ,  2F065FF51 ,  2F065GG04 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL07 ,  2F065LL08 ,  2F065LL10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 形状測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-168825   Applicant：ミノルタカメラ株式会社
  • 計測内視鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-275554   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • 筆記用具の動きの追跡
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願2001-534078   Applicant：デジタルインクインコーポレーテッド
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