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J-GLOBAL ID：200903065550134144

光ファイバひずみセンサ装置及びひずみの検出方法

Inventor： 津田 浩
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002340197
Publication number (International publication number)：2004177134
Application date： Nov. 25, 2002
Publication date： Jun. 24, 2004
Summary：

【課題】正確なAE計測を可能とし、衝撃負荷による高速なひずみ変化の検出においても有効な光ファイバひずみセンサ装置及びひずみの検出方法を実現する。【解決手段】被検体15に取り付けられるFBGセンサ6と、FBGセンサ6に広帯域波長光を入射するための広帯域光源11と、FBGセンサ6で反射される反射光を反射又は透過させるFBGフィルタ9とを備えており、広帯域光源から入射され上記FBGセンサ6で反射される反射光の中心波長の変化をFBGフィルタ9で処理して検出する。【選択図】 図5

Claim (excerpt)：

FBGを書き込んだ光ファイバから成り被検体に取り付けられるFBGセンサと、該FBGセンサに広帯域波長光を入射するための広帯域光源と、上記FBGセンサで反射される反射光を反射又は透過させるフィルタとを備えており、 上記広帯域光源から入射され上記FBGセンサで反射される反射光の中心波長の変化を上記フィルタで処理して検出することを特徴とする光ファイバひずみセンサ装置。

IPC (3)：

G01B11/16 ,  G01D5/26 ,  G01L1/24

FI (3)：

G01B11/16 Z ,  G01D5/26 D ,  G01L1/24 A

F-Term (16)：

2F065AA65 ,  2F065BB12 ,  2F065CC23 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF41 ,  2F065FF49 ,  2F065JJ01 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ44 ,  2F103BA10 ,  2F103CA04 ,  2F103CA06 ,  2F103EC09 ,  2F103EC16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光ファイバ歪み計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-282940   Applicant：三菱重工業株式会社
• 歪み計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-356083   Applicant：三菱重工業株式会社