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J-GLOBAL ID:200903065834522063
質量分析装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003384621
Publication number (International publication number):2005149869
Application date: Nov. 14, 2003
Publication date: Jun. 09, 2005
Summary:
【課題】 螺旋状の軌道に沿ってイオンが飛行するように構成されたTOFMSにおいて、煩雑である機械的構成の変更や追加なしに分析目的等に応じて質量分解能を適宜に変更可能とする。 【解決手段】 イオンを螺旋状に飛行させるための円筒電極11、12の間に、該円筒電極の軸方向にイオンをずらすような電場を発生させるための偏向電極20〜23を配置し、必要とする質量分解能に応じて偏向電極20〜23に印加する電圧を変化させる。その電圧変化によって偏向電場が発生又は消滅すると、イオンは螺旋状の軌道上を飛行したり(c)或いは同一軌道上を周回したり(b)するから、周回数を適宜に調整することで飛行距離を任意に制御し、それによって質量分解能を制御することができる。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
a)その周回方向に少なくとも1箇所で開口部を有する筒形状の飛行空間を形成するための第1電極部と、
b)前記飛行空間の前記開口部に設けられ、イオンの飛行軌道を該飛行空間の軸方向にずらすべく偏向電場を形成するための第2電極部と、
c)第2電極部に印加する電圧を制御する手段であって、第2電極部を通過するイオンを前記飛行空間の軸方向にずらすことで螺旋状の飛行軌道を形成するような電圧を印加する第1モードと、第2電極部を通過するイオンを前記飛行空間の軸方向にずらさずに略同一の周回軌道を形成するような電圧を印加する第2モードとの切り替えを行う飛行制御手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (3):
H01J49/40
, G01N27/62
, H01J49/06
FI (4):
H01J49/40
, G01N27/62 E
, G01N27/62 K
, H01J49/06
F-Term (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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飛行時間型質量分析計のイオン光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-292699
Applicant:日本電子株式会社
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飛行時間型質量分析計のイオン光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-041374
Applicant:日本電子株式会社
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飛行時間型質量分析計のイオン光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-275940
Applicant:日本電子株式会社
Cited by examiner (8)
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飛行時間型質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-118070
Applicant:株式会社島津製作所
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飛行時間型質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-365117
Applicant:株式会社島津製作所
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飛行時間型質量分析計のイオン光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-041374
Applicant:日本電子株式会社
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飛行時間型質量分析計のイオン光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-041375
Applicant:日本電子株式会社
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飛行時間型質量分析計のイオン光学系
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-275940
Applicant:日本電子株式会社
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周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-319941
Applicant:日本電子株式会社
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飛行時間型質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-319940
Applicant:日本電子株式会社
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質量分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-324665
Applicant:株式会社島津製作所
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