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J-GLOBAL ID:200903065878732170
導電性針状単結晶体及び包埋物
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993185049
Publication number (International publication number):1995033597
Application date: Jul. 27, 1993
Publication date: Feb. 03, 1995
Summary:
【要約】【目的】 半導体集積回路の電気特性測定用プローブ等に使用できる導電性針状単結晶体、その包埋物及びそれを用いた電気特性測定用組立物を得る。【構成】 (A)VLS成長法にて形成された針状単結晶体と(B)該針状単結晶体の少なくとも側面を被覆してなる0.1〜10μm厚みの導電性膜からなる導電性針状単結晶体で、アスペクト比が1〜500の範囲である導電性針状単結晶体、その包埋物及びそれを用いた電気特性測定用組立物。
Claim (excerpt):
(A)VLS成長法にて形成された針状単結晶体と(B)該針状単結晶体の少なくとも側面を被覆してなる0.1〜10μm厚みの導電性膜からなる導電性針状単結晶体で、アスペクト比が1〜500の範囲である導電性針状単結晶体。
IPC (7):
C30B 29/62
, C30B 11/12
, G01R 1/067
, H01B 1/00
, H01B 1/08
, H01B 1/14
, H01L 21/66
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開昭57-087144
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回路測定用端子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-008373
Applicant:株式会社東芝, 電気化学工業株式会社
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回路測定用端子およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-056357
Applicant:電気化学工業株式会社, 株式会社東芝
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