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J-GLOBAL ID:200903066186882187
酸化物薄膜の成長方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
岡部 正夫 (外11名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000315409
Publication number (International publication number):2001172767
Application date: Oct. 16, 2000
Publication date: Jun. 26, 2001
Summary:
【要約】【課題】 基板上に酸化物薄膜を成長させる方法を提供する。【解決手段】 金属原料と酸素原料の交互表面反応で基板上に酸化物薄膜を堆積させるALD法の原理に従った酸化物薄膜の成長方法において、使用する該酸素原料が少なくとも1つの有機リガンドを有するホウ素、シリコンまたは金属の化合物であって、その酸素が少なくとも1つのホウ素、シリコンまたは金属原子に結合しているものである。
Claim (excerpt):
金属原料と酸素原料の交互表面反応で基板上に酸化物薄膜を堆積させるALD法の原理に従った酸化物薄膜の成長方法において、使用する該酸素原料が少なくとも1つの有機リガンドを有するホウ素、シリコンまたは金属の化合物であって、その酸素が少なくとも1つのホウ素、シリコンまたは金属原子に結合しているものであることを特徴とする方法。
IPC (4):
C23C 16/40
, C23C 16/02
, C23C 16/18
, H01L 21/316
FI (4):
C23C 16/40
, C23C 16/02
, C23C 16/18
, H01L 21/316 X
Patent cited by the Patent:
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