非接触式ICカードの検査装置およびその方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高橋明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999044555
Publication number (International publication number)：2000242746
Application date： Feb. 23, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】非接触式ICカードにおいて生じる様々な電気的特性を高信頼度で、しかも高速に非接触で検査することができるようにしてICカード発行の高効率化をはかり、ICカードの低コスト化を実現できるようにした非接触式ICカードの検査装置およびその方法を提供することにある。【解決手段】送信用コイル301により非接触式ICカード2に電力を送信し、検出コイル401により非接触式ICカード2のアンテナ電流を検出して電圧に変換し、設定電圧と比較することにより該非接触式ICカード2の良否を判別する。

Claim (excerpt)：

所望の周波数の電磁波を発生させて、アンテナ部および該アンテナ部に電気的に接続されたIC素子を内蔵した被検査対象のICカードに対して与える電磁波発生源と、該電磁波発生源から与えられた電磁波を元に被検査対象のICカードの電気的特性に応じてアンテナ部で受信する電流特性を非接触で磁気的に検出する検出装置とを備え、該検出装置で検出される検出信号によって被検査対象のICカードの電気的特性を検査するように構成したことを特徴とする非接触式ICカードの検査装置。

IPC (2)：

G06K 17/00 , H02J 17/00

FI (3)：

G06K 17/00 H , G06K 17/00 K , H02J 17/00 B

F-Term (3)：

5B058CA17 , 5B058KA22 , 5B058KA28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

非接触式ICカードの故障判定方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-098910 Applicant：日本電信電話株式会社
非接触式情報記録媒体および情報処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-243358 Applicant：株式会社東芝
非接触ICカード用検査装置および検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-158100 Applicant：凸版印刷株式会社

Show all

Return to Previous Page