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J-GLOBAL ID:200903066725700535

電力機器用X線断層像検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 小川 勝男 ,  田中 恭助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002341233
Publication number (International publication number):2004177174
Application date: Nov. 25, 2002
Publication date: Jun. 24, 2004
Summary:
【課題】電力機器の劣化の原因は、電力機器を構成する材料自体に発生するマイグレーション、クラック、ピンホールが原因と予測されているが、実際に使用電力機器でこれらの欠陥を直接観察したり、その成長過程や進行状況を把握することが困難であり、寿命予測も難しいものとなっていた。【解決手段】電力機器用X線断層像検査装置は、穴部を有する基体上に移動自在に配置され、垂直軸の回りに回転すると共に、上記垂直軸に対して、ほぼ水平に配設された電力機器を搭載する載置台と、X線を発生すると共に、上記X線の光軸が上記垂直軸に対して傾斜するように配置されたX線発生部と、上記載置台に載置された電力機器を透過したX線像を光学像に変換する手段と、上記光学像を回転する手段と、上記回転された光学像を電気信号に変換する手段と、上記電気信号を処理してX線断層像を得る制御装置からなり、上記制御装置は、上記載置台の動きを制御すると共に、上記X線発生部のX線の発生を上記電力機器のX線断層像に適するように制御するように構成される。【選択図】図1
Claim (excerpt):
穴部を有する基体上に移動自在に配置され、垂直軸の回りに回転すると共に、上記垂直軸に対して、ほぼ水平に配設され、XYテーブルと回転テーブルとからなる電力機器を搭載する載置台と、X線を発生すると共に、上記X線の光軸が上記垂直軸に対して傾斜するように配置されたX線発生部と、上記載置台に載置された電力機器を透過したX線像を光学像に変換する手段と、上記光学像を回転する手段と、上記回転された光学像を電気信号に変換する手段と、上記電気信号を処理してX線断層像を得る制御装置からなり、かつ上記X線像を光学像に変換する手段、上記垂直軸と平行な回転軸を有し、上記光学像を上記回転テーブルと同期して回転する手段および上記回転された光学像を電気信号に変換する手段は、上記基体に設けられた穴部に設置され、上記制御装置は、上記載置台の動きを制御すると共に、上記X線発生部のX線の発生を上記電力機器のX線断層像に適するように制御することを特徴とする電力機器用X線断層像検査装置。
IPC (1):
G01N23/04
FI (1):
G01N23/04
F-Term (18):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA08 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001LA11 ,  2G001PA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
  • 特許第2925841号
  • X線断層撮像装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-337032   Applicant:株式会社日立国際電気
  • 軟X線断層撮影法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-217134   Applicant:住友電気工業株式会社
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