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J-GLOBAL ID：200903067037598413

画像間対応探索装置及び画像間対応探索方法

Inventor：
岩城 秀和

About 岩城 秀和


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000365051
Publication number (International publication number)：2002170100
Application date： Nov. 30, 2000
Publication date： Jun. 14, 2002
Summary：
【要約】【課題】本発明は、パターン投影光学系と撮影光学系の光軸を一致させるといった煩わしさもなく、より正確でより信頼度の高い密な対応を効率的に求めることができる画像間対応探索装置及び画像間対応探索方法を提供する。【解決手段】本発明の一態様によると、視点の異なる複数の画像間の対応を探索する画像間対応探索装置であり、所定のパターンが投影された撮影対象を、複数の異なる視点から撮影した画像群を入力するパターン投影画像入力手段と、パターンが投影されていない撮影対象を、複数の異なる視点から撮影した画像群を入力する画像入力手段と、前記パターン投影画像力手段によって入力された画像群と、前記画像入力手段によって入力された画像群とを比較し、所定の基準で領域毎にどちらかの画像群を選択して、画像間の各画素毎あるい領域毎の類似度を計算する類似度計算手段と、前記類似度計算手段によって計算された類似度に基づいて、対応する画素組あるいは領域組を探索する探索手段とを有することを特徴とする画像間対応探索装置が提供される。
Claim (excerpt)：
視点の異なる複数の画像間の対応を探索する画像間対応探索装置であり、所定のパターンが投影された撮影対象を、複数の異なる視点から撮影した画像群を入力するパターン投影画像入力手段と、パターンが投影されていない撮影対象を、複数の異なる視点から撮影した画像群を入力する画像入力手段と、前記パターン投影画像力手段によって入力された画像群と、前記画像入力手段によって入力された画像群とを比較し、所定の基準で領域毎にどちらかの画像群を選択して、画像間の各画素毎あるい領域毎の類似度を計算する類似度計算手段と、前記類似度計算手段によって計算された類似度に基づいて、対応する画素組あるいは領域組を探索する探索手段と、を有することを特徴とする画像間対応探索装置。
IPC (3)：
G06T 1/00 280 ,  G06F 17/30 170 ,  G06T 7/20
FI (3)：
G06T 1/00 280 ,  G06F 17/30 170 B ,  G06T 7/20 Z
F-Term (18)：
5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC34 ,  5B075ND06 ,  5B075NK07 ,  5B075NK37 ,  5B075QM05 ,  5B075QR02 ,  5B075QS03 ,  5B075UU40 ,  5L096CA05 ,  5L096GA08 ,  5L096HA01 ,  5L096HA08 ,  5L096JA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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