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J-GLOBAL ID：200903067092435949

ステレオ写真法による形状計測方法及び装置

Inventor： 田代 発造 ,  久家 好
Applicant, Patent owner： 株式会社ひさや
Agent (1)： 石原 詔二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993040221
Publication number (International publication number)：1994249627
Application date： Mar. 01, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【目的】 複数台のカメラの性能の同一性、レンズの歪の極小化、カメラの相対位置等の条件がそれ程厳密に満足されなくとも正確かつ測定精度良く測定することのできるステレオ写真法による形状計測方法を提供する。【構成】 基準パターン面を有する背景体を測定対象物の背後に設置し、カメラの視線が該測定対象物を介して該背景体に到達するように複数台のカメラを配置し、物体の測定点を通る各カメラの視線と基準パターン面との各交点の3次元座標を求め、該各交点の3次元座標と各カメラ位置の3次元座標とから当該物体の測定点の3次元座標を算出し、順次多数の測定点を算出することによって当該物体の形状を計測する。

Claim (excerpt)：

基準パターン面を有する背景体を測定対象物の背後に設置し、カメラの視線が該測定対象物を介して該背景体に到達するように複数台のカメラを配置し、物体の測定点を通る各カメラの視線と基準パターン面との各交点の3次元座標を求め、該各交点の3次元座標と各カメラ位置の3次元座標とから当該物体の測定点の3次元座標を算出し、順次多数の測定点を算出することによって当該物体の形状を計測することを特徴とするステレオ写真法による形状計測方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 三次元測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-182177   Applicant：三洋機工株式会社
• 特開平2-248805
  
• 産業用ロボツトシステムの座標系較正方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-212893   Applicant：エヌオーケー株式会社