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J-GLOBAL ID:200903067456802861
シリコンウエーハの熱処理方法及びシリコンウエーハ
Inventor:
,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
好宮 幹夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997314465
Publication number (International publication number):1999135514
Application date: Oct. 30, 1997
Publication date: May. 21, 1999
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 シリコンウエーハをRTA装置を用いて、還元性雰囲気下で熱処理する方法に関し、特にウエーハ表面のCOP密度を低下させてTZDB、TDDB等の電気特性を改善するとともに、スリップ転位の発生を抑制して、ウエーハの割れ等を防ぎ、急速加熱・急速冷却装置の本来的に有する、生産性の向上、水素ガスの少量化等の利点を生かそうとするものである。【解決手段】 急速加熱・急速冷却装置を用いてシリコンウエーハを還元性雰囲気下で熱処理する方法において、該シリコンウエーハを水素の割合を10〜80容量%とした水素とアルゴンの混合ガス雰囲気下で、温度1150〜1300°Cで1〜60秒間熱処理をする。また、前記水素とアルゴンの混合ガス中の水素の割合を20〜40容量%とすることを特徴とする。
Claim (excerpt):
急速加熱・急速冷却装置を用いてシリコンウエーハを還元性雰囲気下で熱処理する方法において、該シリコンウエーハを水素の割合を10〜80容量%とした水素とアルゴンの混合ガス雰囲気下で、温度1150〜1300°Cで1〜60秒間熱処理をすることを特徴とするシリコンウエーハの熱処理方法。
IPC (3):
H01L 21/324
, C30B 33/02
, H01L 21/02
FI (3):
H01L 21/324 X
, C30B 33/02
, H01L 21/02 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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