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J-GLOBAL ID:200903067604402037
元素分析用前処理装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (2):
磯野 道造
, 多田 悦夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006246547
Publication number (International publication number):2008070134
Application date: Sep. 12, 2006
Publication date: Mar. 27, 2008
Summary:
【課題】元素分析装置における炭素・窒素安定同位体比等の検出能力を向上させることができる元素分析用前処理装置を提供すること。【解決手段】元素分析用前処理装置2は、試料中の元素を分析装置3で分析する測定用の測定ガスを生成するための装置であり、試料を供給するオートサンプラ21と、反応ガスを供給するための酸素ガスボンベ5と、試料を酸素ガスボンベ5から供給された反応ガスによって燃焼させてガス化させる燃焼部22aと、この燃焼部22aの下流側に形成され酸化剤23を入れた酸化カラム部22bとを有する酸化管22と、試料ガスを還元させる還元剤25を入れた還元管24と、を備えている。酸化管22は、燃焼部22aの流路断面積S1を酸化カラム部22bの下流部22dの流路断面積S2より大きく形成している。還元管24は、流路断面積S3を燃焼部22aの流路断面積S1より小さく形成している。【選択図】図2
Claim (excerpt):
試料供給手段から供給された試料を、反応ガス供給手段から供給された反応ガスにより燃焼炉内において燃焼させてガス化することで試料ガスを生成し、さらに、この試料ガスを管内の酸化剤で酸化させるための酸化管と、
この酸化管に接続され当該酸化管内で酸化した前記試料ガスのうち二酸化窒素を前記燃焼炉内において窒素ガスに還元させる還元剤を入れた還元管と、
この還元された試料ガスを分析用成分の測定ガスに分離して所定の時間間隔で分析手段に供給するガスクロマトグラフと、
を備えて、前記測定ガス中の元素を分析する前記分析手段に、前記ガスクロマトグラフで生成した前記測定ガスをオープンスプリットを介して供給する元素分析用前処理装置において、
前記酸化管は、前記試料が前記反応ガスによって燃焼される燃焼部と、この燃焼部の下流側に形成され前記酸化剤が充填された酸化カラム部とを有すると共に、
下流側よりも大きく形成された上流側の流路断面積でなる大径部と、この大径部より下流側に形成され前記上流側の流路断面積より小さい流路断面積でなる小径部と、を有することを特徴とする元素分析用前処理装置。
IPC (2):
FI (4):
G01N31/00 Y
, G01N31/00 D
, G01N31/00 F
, G01N31/12 A
F-Term (19):
2G041CA01
, 2G041EA12
, 2G041FA03
, 2G041FA05
, 2G041FA22
, 2G041FA24
, 2G041JA02
, 2G041LA08
, 2G042AA01
, 2G042BA01
, 2G042BA05
, 2G042DA03
, 2G042DA04
, 2G042EA02
, 2G042FA04
, 2G042FA05
, 2G042FB04
, 2G042GA01
, 2G042HA03
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (7)
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