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J-GLOBAL ID:200903067789319629
自動工作機械
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
工業技術院計量研究所長 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994042332
Publication number (International publication number):1995246547
Application date: Mar. 14, 1994
Publication date: Sep. 26, 1995
Summary:
【要約】【目的】各軸の案内面の精度や材質に影響されず、大型でも高精度な加工精度を得ることのできる自動工作機械を提供する。【構成】工具14Aの座標を検出する検出手段を、工具取付け軸14に取付けられた反射体24と、反射体24を追尾して、その追尾する反射体24の移動量を測定すると共に、反射体24の移動量から工具14Aの座標を検出するレーザ追尾式測定装置20と、から構成した。これにより、自動工作機械10の各軸の案内面とは別のところに測定基準が設けられるので、案内面とは無関係に工具14Aの座標を検出することができる。
Claim (excerpt):
工具取付け軸に取付けた工具の座標を検出手段で検出し、その検出結果から前記工具の現在位置を確認すると共に、確認した工具の現在位置と予め工具移動経路に従って指令された指令位置とを比較補正しながら前記工具をワークに対して相対的に指令位置に移動させることによりワークを加工していく自動工作機械に於いて、前記検出手段は、前記工具取付け軸に取付けられた反射体と、前記反射体を追尾して、その追尾する反射体の移動量を測定すると共に、反射体の移動量から前記工具の座標を検出するレーザ追尾式測定装置と、から成ることを特徴とする自動工作機械。
IPC (3):
B23Q 17/24
, G01B 9/02
, G01B 11/00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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特開平2-249909
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特開平2-119120
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自動工作機械の運動精度測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-030115
Applicant:工業技術院長, 株式会社東京精密
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レーザ追尾式座標測定機
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-030116
Applicant:工業技術院長, 株式会社東京精密
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Cited by examiner (1)
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