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J-GLOBAL ID：200903067844691222

レーザ加工装置

Inventor：
森園 幸太郎

About 森園 幸太郎

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山川 英樹

About 山川 英樹

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井▲高▼ 護

About 井▲高▼ 護

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長谷部 洋泰

About 長谷部 洋泰


Applicant, Patent owner：
株式会社キーエンス

About 株式会社キーエンス


Agent (1)： 大槻 聡
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006251882
Publication number (International publication number)：2008068313
Application date： Sep. 15, 2006
Publication date： Mar. 27, 2008
Summary：
【課題】 加工対象物上の加工面が相対的に傾いている場合であっても、加工パターンを正しく加工することができるレーザ加工装置を提供する。【解決手段】 レーザ光Lの出射点に基づいて予め定められる加工基準面上に設けられる3以上の基準点の位置座標を記憶する基準点記憶部401と、レーザ光Lを加工基準面上で走査させ、各基準点のいずれか2つを加工対象物上に表示する走査制御部407と、表示された基準点及び当該基準点に対応する加工基準面上の基準点間における位置の差分情報に基づいて、各基準点の位置座標を加工基準面内で変更する基準位置変更処理部402と、基準位置変更処理部402による変更後の基準点の位置座標及び変更前の基準点の位置座標に基づいて、加工基準面上の照射位置が規定された加工パターン情報の位置座標を変換する座標変換処理部404により構成される。【選択図】 図27
Claim (excerpt)：
レーザ加工装置におけるレーザ光の出射点に基づいて予め定められる加工基準面を基準とする位置情報に基づいて、上記レーザ光の焦点距離を調整して加工対象物の3次元加工面にレーザ加工を行うレーザ加工装置において、 上記加工基準面上に設けられる3以上の基準点の位置情報を記憶する基準点記憶手段と、 上記レーザ光を上記加工基準面上で走査させ、上記各基準点のいずれか2つを上記加工対象物上に表示する走査制御手段と、 上記走査制御手段により表示された基準点、及び、当該基準点に対応する上記加工基準面上の基準点間における位置の差分情報を指定する差分情報指定手段により指定された差分情報に基づいて、上記各基準点の位置情報を上記加工基準面内で変更する基準位置変更手段と、 上記基準位置変更手段による変更後の基準点の位置情報及び変更前の基準点の位置情報に基づいて、上記レーザ光の照射位置が規定された加工パターンにおける照射位置情報を変換する照射位置情報変換手段とを備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
IPC (5)：
B23K 26/00 ,  B23K 26/04 ,  B23K 26/08 ,  B23K 26/02 ,  H01S 3/00
FI (6)：
B23K26/00 M ,  B23K26/04 C ,  B23K26/08 B ,  B23K26/08 H ,  B23K26/02 A ,  H01S3/00 B
F-Term (18)：
4E068AB00 ,  4E068CA11 ,  4E068CA14 ,  4E068CB02 ,  4E068CE03 ,  4E068CE05 ,  5F172AD05 ,  5F172AE02 ,  5F172AE03 ,  5F172AE07 ,  5F172AE08 ,  5F172AE09 ,  5F172AF02 ,  5F172CC01 ,  5F172EE15 ,  5F172NQ25 ,  5F172NQ46 ,  5F172NR22
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (1)

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